顾连学
- 作品数：7 被引量：12H指数：2
- 供职机构：中国科学院上海原子核研究所上海应用物理研究所更多>>
- 相关领域：机械工程核科学技术自动化与计算机技术更多>>
- XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪被引量：4
- 1991年
- 本仪器利用X射线荧光分析原理和微机技术研制而成的。以小型X射线管作激发源,射线用小孔准直,样品用光学定位,样品最小测量面直径为0.1mm。微机多道实时显示能谱。它能快速、精确、无损测量多种微小面积上的单、双涂层厚度和合金涂层厚度及成分,结果由屏幕显示并打印输出,还能作统计处理。
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- 关键词：X射线荧光涂层测厚仪
- 微机多道管理及处理软件的C语言实现
- 1992年
- 多道分析器(MCA)是核实验和核技术应用中极为重要的分析仪器.现大多数为基于微机的系统,由于这些系统中绝大部分所配量的软件均由汇编语言编写,因此无论从可读性、通用性、移植性,还是从程序的增强、维护方面来说都较差.本文叙述了一种用C语言(简称C)的实现方法以及C版本的特性。
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- 关键词：多道分析器微机C语言
- 棉条重量测量仪
- 重量测定仪由检测盒，探测器、放大器、甄别器、接口和计算器组成。其测量原理是：穿过被测介质到达探测器的辐射强度I与无吸收介质时探测器上的辐射强度Io之间存在如下关系：I＝Ioe[*-μm*]pd。式中的μm为介质的吸收系数...
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- 关键词：棉条放射性分析电路响应
- XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪的数据获取和处理
- 本文主要介绍了用X荧光技术对小面积涂层厚度进行测量的数据获取与处理方法。仪器用小型X射线管产生的射线作为激发源;数据获取和处理由微机多道分析器来完成。它能测量的最小面积的直径是 0-1mm,能对单涂层、复合双涂层和合金涂...
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- 关键词：X射线管合金涂层
- 文献传递
- X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系被引量：8
- 1990年
- 本文通过分析同位素X射线荧光分析仪的工作条件和谱形的关系,来判选仪器的正确工作条件,以此提高仪器系统长期测量精确度。
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- 关键词：X射线荧光分析仪
- 基于微机的磁盘磁层测厚仪
- 1987年
- 磁盘存贮器是电子计算机的主要外部设备,高密度大容量磁盘存贮器的研制和生产是发展计算机事业的重要组成部分。磁盘磁介质层的厚度,直接影响磁盘的信息记录密度和输出信号的幅度,是检验磁盘的一个重要参数。随着记录密度的不断提高,要求磁盘的磁层越来越薄。一般,涂敷于基底上的Fe2O3仅有零点几到2μm左右,采用传统的测厚技术难于测量。我们利用X荧光法并配用微机研制成磁盘磁层测厚仪,解决了这一测量问题。
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- 关键词：测厚仪X荧光微机
- 黄铜镀层成份分析仪被引量：1
- 1990年
- 本文简要介绍了黄铜镀层成份分析仪的测量原理和结构。它能快速、无损、精确地测定铁、镍基底上黄铜镀层(厚度为3—5μm)中的铜、锌百分含量,分析铜含量的精确度为0.6％。测量结束能显示和打印出铜、锌含量和铜含量误差。
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- 关键词：黄铜镀层分析仪X荧光
