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骆建
作品数:
6
被引量:6
H指数:2
供职机构:
清华大学
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相关领域:
理学
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合作作者
陶琨
清华大学
殷宏
清华大学
李彬
清华大学
徐育敏
清华大学医学院生物医学工程系
殷宏
清华大学
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Pd/Ag双层膜系统扩散过程的XRD结构深度分布分析
被引量:2
1997年
研究了X射线衍射的结构深度分布分析新方法该方法以不同的入射角入射,测量各物相的衍射谱,进而解出各确定深度处薄层的X射线衍射谱,从而可无损和定量地得到各深度处的衍射线的角度位置、强度和线型等全部结构信息此方法可得到各确定深度处的结构信息,而不是由表面到某深度处的平均结构信息;并且适用于具有择优取向的样品和吸收系数随深度而变化的样品.用此方法研究了Pd/Ag双层膜的退火过程,发现在互扩散的过程中,平行于初始界面的薄层中的结构不是微观均匀的,而是由两种具有不同点阵参数的固溶体构成的.结果证实该方法的可行性和有效性。
陶琨
李彬
骆建
关键词:
X射线衍射
双层膜
XRD
多晶薄膜及表面层的XRD分析方法讨论
1995年
对多晶薄膜XRD分析的基本问题小角度衍射几何、非对称平行光束法和Seemann-Bohlin法的衍射几何强度计算,以及P-B法、S-B法对常规XRD分析的适应性进行了分析讨论。并对多晶薄膜XRD分析的当前进展、难点及发展作了分析。提出两种薄膜及表面层表征参量沿深度方向变化的情况下进行XRD深度分布分析的新方法,该方法具有真实深度尺度和定量的特点,并可用于界面分析。
陶琨
骆建
徐育敏
关键词:
X射线衍射谱
表层物相探度分布的XRD分析
骆建
殷宏
关键词:
X射线衍射
计算机模拟
相分析
X射线衍射多晶谱计算机深度层析技术探索
1995年
提出了一种可用于将来自不同真实深度处的X射线衍射谱信息各自分离出来的技术方案,可以得出不同深度处的衍射强度、峰位和线形.该方法是定量和无损的,并且其深度尺度是真实尺度.此外并提出了吸收深度的概念.这一技术可称为直接法X射线衍射计算机深度层析技术,其可行性用Ni/Mo.双层膜样品进行了初步验证.该方法可应用于定量无损地测量峰形、峰位和峰强的深度剖面,并有可能用于界面层分析.
骆建
陶琨
关键词:
X射线衍射谱
CT
连续过渡型多晶物相深度分布的X射线衍射测试方法
被引量:5
1995年
提出了以X射线衍射测量连续过渡型多晶物相深度分布的方案.该方案在入射角大于全反射角的常规条件下,实现了严格的真实尺度下的物相定量深度分布测量.以计算谱对方法及程序的正确性进行了验证,并用实际样品对方法的可行性进行了验证.
骆建
殷宏
陶琨
关键词:
多晶
物象
Ni/Mo双层膜的计算机法XRD深度层析
骆建
陶琨
关键词:
层析
X射线衍射
计算机辅助分析
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