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文献类型

  • 7篇专利
  • 3篇期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 7篇测试装置
  • 5篇电路
  • 3篇移植性
  • 3篇扫描测试
  • 3篇时钟电路
  • 3篇芯片组
  • 3篇雷达
  • 3篇边界扫描测试
  • 3篇插件
  • 2篇一对一
  • 2篇雷达产品
  • 2篇检测率
  • 2篇故障隔离
  • 2篇故障检测
  • 2篇故障检测率
  • 2篇差分
  • 1篇电路板
  • 1篇电路板测试
  • 1篇电路组成
  • 1篇电平转换

机构

  • 10篇中国电子科技...

作者

  • 10篇李正东
  • 9篇王凤驰
  • 6篇曹俊锋
  • 4篇柏光东
  • 4篇刘静
  • 2篇沈光正
  • 2篇方云
  • 2篇陈常青
  • 1篇李粉兵
  • 1篇刘军
  • 1篇谢庭波

传媒

  • 1篇电子世界
  • 1篇雷达科学与技...
  • 1篇电子科学技术

年份

  • 2篇2017
  • 4篇2015
  • 3篇2014
  • 1篇2013
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置
本实用新型提供一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置,包括集成测试机箱(1)、适配板接口(2)、BST边界扫描模块(5)、ATEasy模块(6)、热红外分析模块(7)、PCT模块(8)、PCT SRIO模块(9)和L...
王凤驰李正东李粉兵谢庭波刘军
文献传递
一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置
本发明公开一种低功耗差分传输芯片的测试装置,其包括对插件侧接口、对测试系统侧接口、解差分芯片组和时钟电路;所述对插件侧接口和对测试系统侧接口通过并行走线直接一对一连接并双向通讯;所述解差分芯片组分别与对插件侧接口通过差分...
刘静曹俊锋柏光东王凤驰李正东
文献传递
一种通用数字插件的非原理性测试装置及其测试方法
本发明涉及通用数字插件的非原理性测试装置,包括布置在集成测试机柜内的测试控制计算机、功能测试分机以及边界扫描测试分机,三者的电源输入端均通过电源线接220V市电,测试控制计算机通过USB电缆与边界扫描测试分机连接,测试控...
方云沈光正曹俊锋李正东王凤驰
文献传递
一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置
本发明公开一种低功耗差分传输芯片的测试装置,其包括对插件侧接口、对测试系统侧接口、解差分芯片组和时钟电路;所述对插件侧接口和对测试系统侧接口通过并行走线直接一对一连接并双向通讯;所述解差分芯片组分别与对插件侧接口通过差分...
刘静曹俊锋柏光东王凤驰李正东
一种小型化非原理性复用自动测试装置
针对现有自动测试装置兼容性差的问题,本实用新型提供一种小型化非原理性复用自动测试装置,包括边界扫描芯片阵列组、JTAG适配器和JTAG路由器,其中,复用测试接口电路分别与通过JTAG路由器将边界扫描芯片阵列组和JTAG适...
王凤驰柏光东曹俊锋李正东刘静
文献传递
一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置
一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置,其特征在于:其包括对插件侧接口(1)、对测试系统侧接口(2)、解差分芯片组(3)和时钟电路(4);所述对插件侧接口(1)和对测试系统侧接口(2)通过并行走线直接一对一连接并双向通讯...
刘静曹俊锋柏光东王凤驰李正东
基于“魂芯一号”的雷达信号处理机边扫设计被引量:2
2014年
"魂芯一号"(BWDSP100)芯片是一款性能优越的高端DSP处理器,适用于雷达信号处理、电子对抗、精确制导武器、通信保障等领域。针对基于4片BWDSP100芯片和2片ALTERA公司的高端FPGA芯片设计的某雷达信号处理机,用边界扫描测试技术设计了TPS(Test Project Set),以验证BWDSP100芯片的可测试性。同时对该雷达信号处理机的DDR2、FLASH等外围芯片进行了测试有效性验证。经过验证,不仅BWDSP100芯片具有较好的可测试性设计,外围芯片的测试效果也很好,使得该雷达信号处理机有较高的故障覆盖率。
王凤驰陈常青李正东
关键词:边界扫描测试TPS信号处理机
DSP电路板测试中的边界扫描技术
2013年
针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试。较大的改善了含DSP电路板的测试覆盖率和定位精度,具有非常重要的实用价值。
李正东
关键词:DSP
一种通用数字插件的非原理性测试装置及其测试方法
本发明涉及通用数字插件的非原理性测试装置,包括布置在集成测试机柜内的测试控制计算机、功能测试分机以及边界扫描测试分机,三者的电源输入端均通过电源线接220V市电,测试控制计算机通过USB电缆与边界扫描测试分机连接,测试控...
方云沈光正曹俊锋李正东王凤驰
基于边界扫描技术的MACRO测试语言应用及分析
2015年
MACRO测试语言作为边界扫描测试基础上的延伸,继承了边界扫描测试的优点,同时更具灵活性。对于LVDS传输、特殊存储器等,在现有边界扫描测试无法直接用模型解决的情况下,MACRO测试填补了这一空白。文中对MACRO测试的程序设计方法、适用条件等做了介绍,同时通过LVDS传输电路、双端口存储器电路的不同特点,做了程序上的对比分析。通过分析结果不难发现MACRO测试灵活性大的优势,因此能够在测试技术中占据一席之地,并得到更广泛的应用。
王凤驰陈常青李正东
关键词:特殊电路
共1页<1>
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