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焦永恒

作品数:6 被引量:4H指数:1
供职机构:天津师范大学物理与电子信息学院更多>>
发文基金:天津市高等学校科技发展基金计划项目国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:一般工业技术电子电信理学电气工程更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 3篇一般工业技术
  • 1篇电气工程
  • 1篇理学

主题

  • 5篇介电
  • 3篇电性能
  • 3篇介电性
  • 3篇介电性能
  • 3篇PLZT
  • 2篇多层膜
  • 2篇纳米
  • 2篇纳米多层膜
  • 1篇电容
  • 1篇电容器
  • 1篇压强度
  • 1篇沙漠绿化
  • 1篇陶瓷
  • 1篇铁电
  • 1篇铁电陶瓷
  • 1篇膨润土
  • 1篇介电常数
  • 1篇介电弛豫
  • 1篇抗压
  • 1篇抗压强度

机构

  • 6篇天津师范大学
  • 1篇海南大学
  • 1篇清华大学

作者

  • 6篇焦永恒
  • 5篇余大书
  • 2篇宿杰
  • 1篇何明生
  • 1篇张超
  • 1篇李德军
  • 1篇未治奎
  • 1篇董磊
  • 1篇李建保
  • 1篇邓湘云
  • 1篇陈平
  • 1篇王英

传媒

  • 2篇天津师范大学...
  • 1篇功能材料
  • 1篇山西师范大学...
  • 1篇第二届全国纳...

年份

  • 2篇2010
  • 2篇2009
  • 2篇2007
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
PLZT在硅基板上的介电行为研究
2010年
本文将Pb0.93La0.07Zr0.40Ti0.60O3薄膜镀到硅基底上,制得薄膜在硅基底铜电极上的电容器模型.高频段下(达120 MHz)测试了PLZT介电温度效益,100 MHz、室温下的介电常数是1 360,损耗为0.08,居里温度下介电常数是3 780,损耗为0.91.其在居里点附近弥散区域非常宽,通过计算得到弛豫时间的数量级为10-9s.
未治奎张超焦永恒王英余大书
关键词:电容器
PLZT(7/40/60)纳米多层膜介电特性研究被引量:1
2007年
经溶胶-凝胶法制备出PLZT(7,40,60)纳米多层膜,对不同温度、不同层数,不同Zr/Ti比的PLZT薄膜的介电性能用精密阻抗分析仪进行介电特性分析。结果表明:煅烧温度的提高、薄膜层数的增加、锆含量的增加等均对PLZT薄膜的相对介电常数和介电损耗均有影响。频率为1kHz,750℃和锆含量为0.45时,薄膜的相对介电常数和介电损耗都最高。
余大书焦永恒宿杰
关键词:PLZT介电性能
PLZT(7/40/60)纳米多层膜介电特性研究
经溶胶-凝胶法制备出 PLZT(7/40/60)纳米多层膜,对不同温度、不同层数,不同 Zr/Ti 比的 PLZT 薄膜的介电性能用精密阻抗分析仪进行介电特性分析。结果表明:煅烧温度的提高、薄膜层数的增加、锆含量的增加等...
余大书焦永恒宿杰
关键词:PLZT介电性能
文献传递
无机胶凝沙漠绿化砖制备及其性质的研究被引量:3
2009年
采用模压成型方式制备沙漠绿化砖,分析无机胶凝剂用量、固化剂浓度、固化时间3个因素对绿化砖抗压强度、密度和吸水率的影响,从而确定最佳的工艺参数.正交实验结果表明:制备每块绿化砖的最佳的工艺参数为沙子12 kg,无机胶凝剂1 500 mL,固化剂浓度2.5 mol/L,固化时间45 min.但在实际生产过程中,考虑到节约成本和效率问题,固化剂浓度可以降低到1 mol/L、固化时间缩短为5 min.同时证明,添加一定量的膨润土,可以在保证抗压强度不受影响的情况下有效达到节约成本的目的.
陈平邓湘云董磊焦永恒何明生李德军李建保
关键词:抗压强度膨润土
Pb(Zr0.95Ti0.05)O3陶瓷介电弛豫特征研究
经高温热处理后的PZT95/05铁电陶瓷是铁电相斜方结构,介电分析表明:(1)PZT95/05陶瓷的介电常数比PZT75/25陶瓷高出十几倍。(2)PZT95/05陶瓷在高于103MHz时具有明显的介电弛豫。(3)样品的...
焦永恒余大书
关键词:介电弛豫介电常数
文献传递
PLZT铁电薄膜的制备及其性能
2009年
在温度为97℃,水浴回流10 h的条件下,用旋涂法在Si(100)基底上,通过改变溶胶的滴加量、转速、升温速率、煅烧温度及保温时间,制备出性能良好的PLZT铁电薄膜,并用精密阻抗分析仪(PIA)对其介电性能进行测试,研究发现:PLZT铁电薄膜未被击穿时,随着测试频率f的提高电容逐渐减小,而介电损耗会出现突变,在测试频率达到1 MHz时,介电损耗一次突变;当PLZT铁电薄膜被击穿时,随着测试频率f的升高,介电损耗会逐渐增大,在外场频率达到1 MHz时开始减小,当膜被击穿后,电感将不可恢复,而材料的电容具有恢复特征,随着测试频率的升高,电容在逐渐减小.
焦永恒余大书
关键词:SOL-GEL法介电性能
共1页<1>
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