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郭学仁

作品数:14 被引量:31H指数:4
供职机构:桂林电子工业学院机电工程学院机械电子工程系更多>>
发文基金:国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术理学文化科学更多>>

文献类型

  • 13篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 10篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇文化科学
  • 1篇理学

主题

  • 5篇电路
  • 3篇可测性
  • 3篇集成电路
  • 2篇电子电路
  • 2篇子电路
  • 2篇芯片
  • 2篇可测性设计
  • 2篇故障诊断
  • 1篇大招
  • 1篇队列
  • 1篇多项式
  • 1篇多芯片
  • 1篇多芯片模块
  • 1篇循环队列
  • 1篇移位寄存器
  • 1篇在系统可编程
  • 1篇在系统可编程...
  • 1篇招生
  • 1篇正视
  • 1篇正视问题

机构

  • 10篇桂林电子工业...
  • 4篇桂林电子科技...

作者

  • 14篇郭学仁
  • 3篇颜学龙
  • 2篇张弘
  • 1篇周清林
  • 1篇张登辉
  • 1篇雷加
  • 1篇陈雷
  • 1篇叶明军
  • 1篇潘明
  • 1篇谈恩民
  • 1篇尚玉玲

传媒

  • 7篇桂林电子工业...
  • 2篇电子工艺技术
  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子元器件应...
  • 1篇高教论坛
  • 1篇桂林电子科技...
  • 1篇第二届中国测...

年份

  • 1篇2003
  • 1篇2002
  • 1篇2001
  • 3篇2000
  • 3篇1999
  • 2篇1996
  • 2篇1995
  • 1篇1993
14 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现被引量:12
2000年
从国内厂家一个实际的内核电路出发 ,对其进行 BIST插入及边界扫描测试的研究 ;在 VHDL描述的基础上 ,用 FPGA实现设计思想 ,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行 ,其过程验证了将边界扫描和 BIST技术应用于 MCM或 PCB板功能测试的可行性。
谈恩民郭学仁
关键词:FPGA电子电路集成电路
增强扩展能力的BSM设计被引量:2
2000年
主控器设计是边界扫描测试系统设计的重点。这里介绍了一种基于指令模块的主控器体系结构 ,它的指令集的选择依照边界扫描规范并从中提取出最基本的控制方式 ,具有指令扩展功能。采用这样的设计可以使得整个测试控制过程获得更好的兼容性、扩展性与灵活性 ,并且解决了测试中遇到的一些实际问题。文中详细说明了主控器设计的具体结构 。
张弘郭学仁
关键词:主控器测试系统
肯定成绩 正视问题 冷静处理
1995年
本文论述了近年来广西高等教育大胆改革,着意挖潜与内涵发展,扩大招生,使规模跃上一个新台阶,是一项适时的举措,应该肯定。指出规模扩大后也带来了一系列新问题,集中表现为办学条件上的生均占有数下降,明显地影响了高等教育的质量与水平,必须正视。提出应该认真而不是敷衍地按国家教委要求开展本科教育的评价工作,通过对指标体系诸参数的自我测评,展现不足,加以补救,迅速而有效地制止教学质量下滑趋势。
郭学仁
关键词:办学条件广西高等教育扩大招生自学考试助学
基于边界扫描的测试系统软件设计与实现
文章介绍了基于IEEE 1149.1Std的边界扫描测试系统的工作原理、重点探讨了系统的软件设计与实现,该边界扫描测试系统支持JTAG协议的指令集,能够对带边界扫描结构的高密PCB、MCM等进行传统测试方法不能完成的测试...
尚玉玲颜学龙郭学仁周清林
关键词:软件系统故障诊断
文献传递
把握机遇 发展自身
1993年
通过论述当前全国经济加速发展的新形势为教育的发展带来了新机遇,提出应该不失时机地抓住机遇,以求自身的加速发展。
郭学仁
边界扫描测试—复杂MCM的主流测试技术被引量:10
2000年
IEEE- 1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂 MCM和 PCB测试问题的主流测试技术。本文概要论及与测试相关的设计特性 ,详细讨论了不同 MCM的边界扫描测试策略。
郭学仁
关键词:可测性MCM多芯片模块集成电路
边界扫描可测性设计及其VHDL描述被引量:1
1995年
用传统方法测试高密集度SMT板是难以想象的,边界扫描可以解决这一问题。在这基础上讨论了边界扫描可测性设计技术及其硬件描述语言VHDL.
郭学仁
关键词:可测性表面安装技术VHDL语言
用谐波检测技术进行潜在开路故障诊断
1996年
对于复杂的SMTPCB和MCM基板,潜在开路故障的诊断,对提高产品的可靠性和降低成本至关重要。本文提出当电流流经金属导体时会在潜在开路故障部位产生信号失真。失真信号含有丰富谐波。
郭学仁
关键词:基板电子电路谐波检测故障诊断开路故障
故障分解的并行测试生成算法
1999年
并行测试技术是解决当今大规模电路测试难题的一个重要手段。故障分解又是最基本的并行测试方法。详细论述了故障分解的理论和两种故障分解算法的基本模型,并且在实现了一个基于FAN算法的并行测试生成系统的基础上详细说明了故障分解的并行测试生成算法的具体实现。在系统实现中,将故障模拟在全故障集上进行,并对C/S通信进行了多线程处理,取得了比较好的加速效果。
李颖悟颜学龙郭学仁
关键词:并行测试集成电路
关于SMT测试策略的思考与建议被引量:1
1996年
简述了国内外SMT测试的现状与发展动向。
郭学仁
关键词:SMT微模组件
共2页<12>
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