周凯
- 作品数：6 被引量：3H指数：1
- 供职机构：武汉大学物理科学与技术学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金湖北省自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学自动化与计算机技术机械工程更多>>
- 一种基于Windows界面的正电子湮没谱分析软件包
- 2011年
- 在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLAB环境独立运行;编写了完整的多普勒展宽谱分析程序,谱文件的读取、输入参数的调节和拟合结果的输出更加方便快捷,重点加强了正电子湮没实验谱和拟合结果的图形显示。介绍PASA软件的使用经验。
- 李辉周凯王柱陈志权王少阶
- 关键词：数据拟合
- 用正电子湮没谱学研究位错与空位的关联
- 通常正电子寿命谱谱分析程序只能分析孤立的缺陷,当出现缺陷关联的情况时,常规的寿命谱分解程序无法处理,长期困扰着正电子工作者对复杂缺陷体系的研究。
- 庞锦标李辉周凯王柱
- 关键词：正电子
- 正电子湮没谱和光致发光谱研究掺锌GaSb质子辐照缺陷被引量：3
- 2010年
- 用正电子湮没谱和光致发光谱研究了质子辐照后掺锌GaSb中的缺陷.通过分析正电子的缺陷寿命τ2及强度I2的变化发现,在高能质子的辐照下产生了双空位缺陷VGaVSb,可能同时产生了小的空位团.正电子平均寿命τav和S参数随着质子辐照剂量的变化也证明了这一结论.通过分析不同质子辐照剂量下掺锌GaSb的光致发光谱,发现GaSb中的Zn没有与辐照缺陷相互关联.质子辐照在样品中产生了非辐射复合中心.这种非辐射复合中心很可能是双空位和小空位团.利用光致发光谱推算了受主杂质Zn在GaSb中的能级位置.在经过质子辐照后的样品中发现了氢的存在,氢充当了浅受主杂质.通过退火实验观察到了样品中空位型缺陷的迁移合并和分解,发现氢原子加强了缺陷的移动能力.
- 周凯李辉王柱
- 关键词：GASB正电子湮没光致发光谱
- 数字式正电子寿命谱仪
- 正电子是研究材料微结构的灵敏探针,被广泛地应用于研究凝聚态材料电子结构和缺陷性质。传统正电子谱仪具有的仪器分辨函数大小一般在200-400ps(半高宽)范围内,这种谱仪分辨能力限制了对材料中短寿命成分的研究。数字正电子寿...
- 李辉王柱庞锦标秦伟周凯
- 文献传递
- 用正电子寿命谱和X射线衍射研究纳米晶体铜的热稳定性
- 本文用正电子湮没寿命谱和X射线衍射研究了纳米晶体铜的微结构在热作用下的演化。纳米晶体铜样品是在高真空下用1.0Gpa压强压制纳米铜颗粒制成。所用纳米铜颗粒是用自
- 周凯李辉庞锦标王柱
- 关键词：正电子寿命微观结构射线衍射
- 数字式正电子寿命谱仪的设计及性能分析
- 正电子寿命谱技术是研究材料微结构的有效方法,被广泛地应用于研究凝聚态材料电子结构和缺陷性质。传统正电子谱仪具有的仪器分辨函数大小一般在200-400ps(半高宽)范
- 李辉王柱庞锦标秦伟周凯
- 关键词：数字示波器正电子湮没
