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机构

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  • 2篇东北师范大学
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作者

  • 6篇陈波
  • 6篇李达
  • 2篇孟艳丽
  • 2篇刘鹏
  • 1篇崔天刚
  • 1篇李旭
  • 1篇王晓光
  • 1篇陈斌
  • 1篇何飞
  • 1篇杨林

传媒

  • 3篇光学精密工程
  • 2篇光学学报

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
光学表面的X射线异常散射现象
2013年
研究了用掠入射散射法测量光学表面散射分布实验中存在的异常散射现象。首先,介绍了实验装置,并用原子力显微镜(AFM)测量了样品的表面粗糙度,给出了工作波长为0.154nm时不同样品在不同掠入射角下的表面散射分布。然后,分析了异常散射角与临界角的关系。最后,对影响散射强度的因素进行了分析。实验结果表明:当掠入射角大于临界角时能观测到光学表面的异常散射现象。在波长一定的情况下,异常散射角与样品材料有关,与掠入射角和表面粗糙度无关;异常散射角略小于临界角,误差变化为-8.6%~-0.9%。另外,镜像反射强度随着入射角和表面粗糙度的增大而迅速减弱,但异常散射强度与镜像反射强度的比值(峰值比)反而随着掠入射角或表面粗糙度的增大而增大,其比值在0.012~2.667变化。结果证明样品的材料和表面形貌是影响异常散射分布的两个重要因素。
孟艳丽李达陈波
关键词:散射强度表面粗糙度
方孔微通道板结构缺陷对成像质量的影响被引量:2
2012年
方孔微通道板(MCP)作为一种新型X射线波段光学成像系统,因其具有大视场、高分辨率、能够收集大量辐射并将其准直或聚焦等优点,越来越多地受到了人们的关注。但在MCP制作和加工过程中,难免会使微通道产生一定的结构缺陷,对其成像质量造成严重的影响。利用Tracepro软件建立了标准方孔MCP模型和具有不同结构缺陷的MCP模型,并基于蒙特卡罗(MTC)光线追迹方法对这些模型进行模拟成像。分别讨论了Taper型、Twist型和Nonsquare型结构缺陷对成像质量的影响。然后以溴钨灯作为光源,在可见光波段对实验室现有的4块方孔MCP进行了成像实验,所得实验结果与模拟结果基本吻合,验证了模拟结果的正确性。模拟和实验结果表明,以上3种结构缺陷均会造成十字像中央亮斑面积增大、强度降低等情况,所不同的是Taper型结构缺陷使会聚光线分裂成两条,而这两组平行的会聚线相交形成4个焦点,其能量要比单一聚焦能量衰减很多,从而对成像质量影响更大。该研究为今后研究曲面MCP和基于MCP的X射线光学系统奠定了重要基础。
李旭何飞李达陈波
关键词:成像系统X射线光学微通道板光线追迹
球面反射式日冕仪
本发明公开了一种球面反射式日冕仪,属于日冕仪技术领域。解决了现有技术中日冕仪结构复杂、存在渐晕和色差的技术问题。该日冕仪包括主物镜、次镜、成像镜、平面镜、第一光阑、第二光阑和CCD探测器,太阳光球层光线和日冕区域光线经第...
陈波李达刘鹏
文献传递
反射式莱曼阿尔法日冕仪杂光分析被引量:4
2012年
作为色球层光谱的主要成分,莱曼阿尔法辐射在太阳物理学和日冕物理学中具有非常重要的地位。通过观测莱曼阿尔法光谱,可以分析出太阳色球层的主要结构和动态。采用内部遮挡结构,从光学要求出发设计了口径40mm、焦距590mm的反射式日冕仪,用以观测太阳在1.1R⊙~2.5R⊙(R⊙为太阳半径)范围内莱曼阿尔法波段日冕的辐射。该结构应用两片非球面反射镜和一片球面反射镜成像,一片平面反射镜对光路进行偏折。该系统的光学传递函数接近衍射极限,杂散光水平为太阳光球辐射的10-6倍,满足莱曼阿尔法波段日冕的测量要求。
李达孟艳丽陈波
关键词:光学设计杂散光
球面反射式日冕仪实验装置的杂光分析和实验验证被引量:2
2015年
研究了拉曼阿尔法反射式日冕仪的成像与杂光分布水平,以期获得可靠的杂散光测量方法。根据日冕仪和反射式日冕仪的设计原理,设计并加工了一种新型球面反射式日冕仪实验装置,用于观测太阳在太阳半径(R⊙)为1.3~2.5R⊙时的拉曼阿尔法波段日冕的辐射。对该实验装置进行了成像分辨率测试,结果显示该实验装置的空间分辨率为17.96lp/mm,与设计结果相吻合。使用Trace pro软件建立了日冕仪的仿真模型,在零度视场情况下对比了仿真模型和该实验装置获得的子午方向上的杂光分布,得到了该日冕仪实验装置的系统杂光点源透射率(PST)曲线,通过计算得知相应的杂光系数为0.278。文中亦对该实验装置的杂散光来源进行了分析。
李达刘鹏陈斌王晓光陈波
关键词:光学设计杂散分析
空间太阳望远镜在紫外波段成像检测中的杂散光测量和消除被引量:14
2011年
针对EUV太阳望远镜在地面非工作波段预先检测时出现的杂散光问题,考虑望远镜长焦距的特点,建立了基于反射镜转动扫描原理的杂散光测量系统,测量得到了望远镜的点源透射率(PST)曲线。通过对比PST曲线和分析望远镜结构,得出杂散光的主要来源为小角度下的一级杂光,由此设计了主次镜遮光罩,并利用Tracepro软件建立望远镜的实体模型,在不同散射表面的双向散射(BRDF)值条件下计算出遮光罩的消杂光效果。对PST实际测量结果表明,在0~4°,使用遮光罩使杂散光减少3个数量级,杂光系数不超过3.65%。在分辨率成像测量中,杂散光影响得到消除,系统分辨率接近衍射极限,满足地面上紫外光波段的测量要求。
杨林李达崔天刚陈波
关键词:杂散光遮光罩
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