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蔡万林

作品数：8 被引量：0H指数：0
供职机构：上海大学更多>>
发文基金：上海市科学技术委员会资助项目上海市教育委员会重点学科基金上海大学创新基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 7篇片上系统
  • 5篇总线
  • 4篇电路
  • 4篇扫描链
  • 3篇调度
  • 3篇测试调度
  • 2篇嵌入式
  • 2篇逻辑
  • 2篇控制单元
  • 2篇集成电路
  • 2篇遍历
  • 2篇测试矢量
  • 2篇测试系统
  • 2篇测试性
  • 2篇测试总线
  • 1篇信号
  • 1篇信号完整性
  • 1篇SOC
  • 1篇TC
  • 1篇超宽

机构

  • 8篇上海大学

作者

  • 8篇蔡万林
  • 7篇黄徐辉
  • 7篇翁寒一
  • 7篇张金艺
  • 6篇李娇
  • 4篇施慧
  • 4篇张冬
  • 4篇丁梦玲
  • 4篇杨晓冬
  • 2篇吴玉见
  • 2篇杨毅
  • 2篇王佳
  • 2篇段苏阳
  • 2篇王春华

传媒

  • 1篇上海交通大学...

年份

  • 1篇2014
  • 2篇2012
  • 3篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2009
共 8 条 记 录，以下是 1-8
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排序方式：
片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统
本发明涉及一种片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统。它是为完善片上系统可测试性而增加的电路，其电路由一个测试访问通道组、n个测试环、n个逻辑芯核测试控制单元、一个逻辑芯核测试控制总线和一个逻辑芯核测试选择控制单元组成，...
张金艺李娇王佳翁寒一蔡万林张冬杨晓冬施慧黄徐辉杨毅
文献传递
集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法
本发明涉及一种集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法。本系统包含有为完善集成电路片上系统中IP核间连线故障测试和IP核内故障测试而增加的电路结构和基于此电路结构运行的测试寻访机制。本发明能够对集成电路片上系统的IP...
李娇张金艺杨晓冬蔡万林施慧张冬黄徐辉翁寒一丁梦玲
基于可控多扫描使能信号的片上系统TR-TC联合测试成本模型
2011年
基于片上系统的扫描链结构,针对全速测试研究了多扫描使能(SE)信号的可测性设计,并建立了新颖的测试资源-覆盖率(TR-TC)联合测试成本线性规划数学模型.研究结果表明,该模型不仅可以高效控制全速测试的测试资源消耗以及可测性设计复杂度,而且还可以确立SE信号数量的最优上限,进而避免了以盲目提升SE信号数量来提高转换故障覆盖率的纯理论方式,使面向片上系统全速测试的多SE信号可测性设计方法有一个可靠的目标控制值.
张金艺黄徐辉蔡万林翁寒一
集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法
本发明涉及一种集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法。本系统包含有为完善集成电路片上系统中IP核间连线故障测试和IP核内故障测试而增加的电路结构和基于此电路结构运行的测试寻访机制。本发明能够对集成电路片上系统的IP...
李娇张金艺杨晓冬蔡万林施慧张冬黄徐辉翁寒一丁梦玲
文献传递
多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法
本发明涉及一种多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法。其操作步骤为调度矩阵Z建立与初始化、调度矩阵Z行扩展、调度矩阵Z行收缩、调度矩阵Z总测试带宽-总测试时间(W-T)二维调度排序、调度矩阵Z总测试带宽-调...
张金艺翁寒一李娇蔡万林丁梦玲黄徐辉王春华段苏阳吴玉见
文献传递
SoC 超宽总线测试策略的研究
蔡万林
关键词：信号完整性测试调度
片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统
本发明涉及一种片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统。它是为完善片上系统可测试性而增加的电路，其电路由一个测试访问通道组、n个测试环、n个逻辑芯核测试控制单元、一个逻辑芯核测试控制总线和一个逻辑芯核测试选择控制单元组成，...
张金艺李娇王佳翁寒一蔡万林张冬杨晓冬施慧黄徐辉杨毅
文献传递
多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法
本发明涉及一种多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法。其操作步骤为调度矩阵Z建立与初始化、调度矩阵Z行扩展、调度矩阵Z行收缩、调度矩阵Z总测试带宽-总测试时间(W-T)二维调度排序、调度矩阵Z总测试带宽-调...
张金艺翁寒一李娇蔡万林丁梦玲黄徐辉王春华段苏阳吴玉见
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