赵菲菲
- 作品数：15 被引量：53H指数：5
- 供职机构：中国科学院西安光学精密机械研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金西安市科技创新支撑计划基金中国科学院知识创新工程重要方向项目更多>>
- 相关领域：理学电子电信自动化与计算机技术机械工程更多>>
- 热铟封技术中多层金属薄膜的研究被引量：5
- 2010年
- 在像增强器制备过程中,转移阴极—铟封技术使器件设计更加自由,并能提高器件的增益及时间、空间分辨率。相对于冷压铟封,热铟封技术更加简单实用,设备造价低,因此,在真空光电器件制备领域有着广泛的应用前景。但是,热铟封技术在保证器件气密性方面仍需进一步改善。本文采用真空蒸镀方式,在玻璃上制备了多层金属薄膜,以提高In-Sn合金与玻璃的润湿性能。采用座滴法比较了合金在玻璃及五种膜层结构表面的润湿及铺展性能。利用JSM-6700F型场发射电子扫描显微镜分析了润湿界面特性。结果表明:In-Sn合金与玻璃的润湿性能差,且在封接界面处容易产生孔洞;In-Sn合金在膜层结构玻璃/Cr/Cu和玻璃/Cr/Ni/Cu/Ag上表现出良好的铺展性和润湿性,在封接界面处,合金与薄膜表层结合致密,无缝隙或孔洞出现;器件铟封实验表明,采用膜层结构玻璃/Cr/Ni/Cu/Ag,热铟封制管成品率高,气密性良好。
- 赵菲菲赵宝升李伟赛小锋韦永林邹玮
- 关键词：气密性真空沉积像增强器
- 采用Si薄膜的光子计数成像系统性能的研究
- 2010年
- 在陶瓷基底上利用电子束蒸镀方法制备了Si薄膜,用作感应读出方式光子计数成像系统的电荷感应层,并研究了薄膜的结构特征和表面形态.X射线衍射(XRD)测试和场发射扫描电子显微镜(FESEM)图像表明,沉积的Si薄膜为无定形态,由于陶瓷晶界的存在,薄膜较粗糙.搭建了相应的实验系统,对比了采用不同厚度Si薄膜时系统的空间分辨率、计数率、脉冲高度分布曲线等,发现薄膜的厚度对探测器的计数率影响较大.此外,实验还对比了采用相同电阻值的Si薄膜和常用的Ge薄膜时系统的性能.研究表明,采用Si薄膜时系统的畸变较小、计数率高、暗计数小。
- 赵菲菲刘永安胡慧君赵宝升
- 关键词：探测器微通道板
- 双近贴式X射线像增强器成像不均匀性的分析与校正被引量：8
- 2009年
- 分析了双近贴式X射线像增强器响应不一致性的产生机理,对每个像元建立了光电响应的数学模型.基于该模型,提出了一种改进的多点校正算法.该算法将对数曲线模型转化为线性响应模型,通过基于最小二乘法的两点拟合算法对图像数据进行校正.对比分析了校正前后图像的背景标准差及灰度分布曲线,实验结果验证了该方法的有效性.
- 李伟李伟赵宝升赵菲菲
- 关键词：X射线像增强器
- 一种基于半导体层的电荷感应成像方法
- 本发明涉及一种基于半导体层的电荷感应成像方法，1)将光电成像器件的荧光屏换成带衬底的半导体层，在半导体层的衬底背面的真空外侧设置位敏阳极，所述半导体层的方块电阻范围为100MΩ/□～1000MΩ/□；2)光电成像器件的光...
- 赵宝升赵菲菲赛小锋张兴华韦永林刘永安朱香平鄢秋荣
- 文献传递
- 一种高分辨率位敏阳极探测器及其阳极解码方法
- 本发明涉及一种高分辨率位敏阳极探测器及其阳极解码方法，属于多阳极探测技术领域，提供一种具有极高的分辨率和较小的图像扭曲、阳极面板设计面积不受限制的电荷分割型高分辨率位敏阳极探测器及其阳极解码方法，目的是解决现有多阳极探测...
- 赵宝升鄢秋荣刘永安杨颢朱香平韦永林赛小峰赵菲菲李梅
- 文献传递
- 电荷云尺寸对紫外光子计数成像探测器性能的影响被引量：5
- 2011年
- 微通道板出射电荷云尺寸与微通道板增益、微通道板输出面和楔条形阳极间距离以及阳极加速电压等因素有关.到达阳极的电荷云尺寸对紫外光子计数探测器的成像性能有重要影响.本文研究了电荷云尺寸对紫外光子计数成像系统成像性能的影响,论述了调制畸变和"S"畸变两种图像畸变及其产生的原因,采用蒙特卡洛方法模拟了不同尺寸的电荷云对阳极解码的影响.实验测试了微通道板和阳极间距离、微通道板增益以及阳极加速电压对紫外光子计数成像系统成像性能的影响,并给出了实际解决调制畸变和"S"畸变的有效方法.
- 刘永安鄢秋荣盛立志赵菲菲胡慧君赵宝升
- 关键词：微通道板
- 一种高分辨率位敏阳极探测器及其阳极解码方法
- 本发明涉及一种高分辨率位敏阳极探测器及其阳极解码方法，属于多阳极探测技术领域，提供一种具有极高的分辨率和较小的图像扭曲、阳极面板设计面积不受限制的电荷分割型高分辨率位敏阳极探测器及其阳极解码方法，目的是解决现有多阳极探测...
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- Ge薄膜特性及其在光子计数成像系统中的应用被引量：10
- 2009年
- 利用电子束真空蒸镀方法制作了Ge薄膜,用作感应读出方式光子计数成像系统的电荷感应层,研究了石英玻璃衬底和陶瓷衬底上Ge薄膜的结构特征、表面形态以及各种工艺参数对薄膜电阻的影响。X射线衍射(XRD)测试表明,两种衬底上沉积的Ge薄膜均为立方相非晶态。场发射扫描电子显微镜(FESEM)图像表明石英玻璃衬底上的薄膜致密平整,陶瓷衬底上的薄膜比较粗糙,厚度较薄时,陶瓷晶界处薄膜不连续导致电阻较大。通过改变沉积速率、薄膜厚度及采用退火的方法可以控制薄膜电阻。对比了采用不同阻值电荷感应层时系统的性能,发现阻值对探测器的分辨率影响小,对计数率影响较大。
- 赵菲菲赵宝升张兴华李伟李伟邹玮赛小锋
- 关键词：薄膜光学电子束蒸发
- 用于线路板检测的高分辨率X射线像增强器的研制被引量：1
- 2008年
- 鉴于传统的检测方法无法看到封装后芯片内部的线路虚焊和桥接等问题,而且随着封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型封装技术的不断涌现,对于检测装置的分辨率要求越来越高,而高分辨率的X射线检测装置是解决这一问题的关键。提出一种新型高分辨率X射线像增强器,它是线路板检测和芯片封装检测装置中的核心器件之一,其极限分辨率制约着X射线检测装置的发展。通过对其制作工艺的改进和采用新型窗口材料进行真空封接,使其分辨率达到了20 lp/mm。
- 曹希斌赵宝升赛小锋韦永林李伟赵菲菲
- 关键词：X射线像增强器MCP
- 紫外单光子成像系统增益特性研究被引量：13
- 2009年
- 介绍了基于微通道板和楔条形阳极的紫外单光子成像系统的组成和工作原理.利用该系统分别研究了两块和三块微通道板在不同电压下的暗计数特性.实验和拟合结果表明微通道板的暗计数脉冲幅度呈负指数型分布,暗计数率随电压升高而增大.通过测试不同电压下的脉冲幅度分布曲线,发现微通道板增益在较高电压下更加均匀.研究了两块微通道板情况下,微通道板电压和间距对系统分辨率的影响.结果表明,系统分辨率随微通道板电压增加而提高;另外,适当增加微通道板间距也可以提高系统分辨率.
- 张兴华赵宝升刘永安缪震华朱香平赵菲菲
- 关键词：微通道板分辨率
