夏云云
- 作品数：8 被引量：37H指数：4
- 供职机构：华南理工大学更多>>
- 发文基金：广东省战略性新兴产业专项广州市科技计划项目国家文化科技提升计划更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 大功率LED液冷热沉结构与换热效果研究被引量：13
- 2015年
- 为了更好设计LED液冷换热热沉,提高大功率LED热沉的综合换热性能,模拟计算了三种结构热沉的LED芯片最高结温和器件热阻,运用场协同原理分析了不同LED热沉结构的换热原理,以及努塞尔数和摩擦因子随雷诺数的变化规律;并用强化传热因子来表述换热能力和流动阻力的综合换热效果。结果表明,运用30°角矩形翅片的LED结温和器件热阻最低,换热能力最好;菱形翅片次之,垂直平行翅片最差。30°角矩形翅片和菱形翅片由于倾斜角的存在,在增加换热能力的同时也增加了流动阻力;综合分析换热能力和流动阻力,菱形翅片的综合换热性能最好。
- 田立新文尚胜黄伟明夏云云姚日晖
- 关键词：光学器件结温热阻强化换热场协同原理热沉
- 基于BP神经网络的LED可靠性模型研究被引量：6
- 2015年
- 根据LED可靠性与相关参数的映射关系,建立拓扑结构为6-12-1的BP神经网络。以实测白光LED芯片的理想因子、结温、色温漂移等参数为输入量,以寿命为输出量,计算模型精度。研究结果表明,该模型有良好的外推能力及鲁棒性,可在短时间内成功预测LED寿命,神经网络训练结果相关系数为99.8%,检验组误差小于3%。
- 黄伟明文尚胜夏云云
- 关键词：发光二极管可靠性BP神经网络
- GaN基LED失效分析与可靠性研究
- LED具有寿命长、能耗小、绿色环保等优点,广泛应用于照明显示领域。LED的可靠性研究是实现其广泛使用在各种场合的保证,在LED的研究和生产制造中,具有相当重要的作用。本文研究GaN基LED的失效机制及可靠性,找出造成LE...
- 夏云云
- 关键词：LED电极短路可靠性
- 文献传递
- 基于专利视角的我国OLED器件分析被引量：1
- 2014年
- 利用广东省知识产权公共信息综合服务平台,通过在线检索分析,对我国OLED器件的专利数据进行检索、分析和总结。从专利申请总量、总体发展趋势、专利申请区域分析、申请人综合比较和主要技术领域分析等方面,对OLED器件专利进行分析归纳,从专利成果这一客观准确的角度评价我国目前OLED器件的发展水平,为以后OLED器件的研发和专利分布提供可靠参考。
- 史晨阳文尚胜田立新黄伟明夏云云宋鹏程
- 关键词：OLED光源
- 中国OLED设备技术专利态势分析
- 2014年
- 基于广东省专利信息服务平台分析系统,对中国OLED设备技术领域的相关专利进行针对性检索和分析。从申请总量、申请趋势、重点IPC技术领域和主要申请人等方面对国内OLED设备技术专利进行分析总结,为OLED设备技术领域的科技研发和整体发展提供参考。
- 夏云云文尚胜田立新
- 关键词：OLED
- 基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估被引量：9
- 2016年
- 提出一种对光参量呈非单调下降规律的LED灯珠可靠性进行评价的方法.采用加速寿命实验获得光通量退化数据,利用指数叠加形式的退化模型对光通维持率退化数据进行拟合,与指数模型拟合效果相比,该模型具有更好的效果.用MATLAB软件计算样品的伪失效寿命,通过KolmogorovSmirnov检验法得到两个公司样本伪失效寿命分布分别服从对数正态分布和威布尔分布,以相应分布参量评估产品可靠性得到两个公司样本的伪失效寿命分别为5 328.37h和4 758.35h.该方法对参量呈非单调下降规律的LED器件可靠性的评估具有参考价值.
- 夏云云文尚胜方方
- 关键词：LED可靠性
- GaN基通孔垂直结构的发光二极管失效分析被引量：2
- 2017年
- 基于X-射线透视仪进行无损伤检测发现发光二极管(LED)产品的封装会产生空洞的情况,特选取了GaN基通孔垂直结构的LED短路失效案例进行了失效性研究.利用光学显微镜、能谱仪和扫描电子显微镜对样品微观形貌进行表征,对失效样品进行金相切片处理,观察截面处形貌,最后根据分析结果得出样品的失效机理.分析结果表明:背金层空洞和固晶层空洞的存在加重了芯片通孔处应力不均,加快了GaN外延层的破裂的速度,致使LED失效.因此,在LED的封装过程中,也需要去避免空洞的产生,增加LED的可靠性.
- 符民文尚胜夏云云向昌明马丙戌方方
- 关键词：发光二级管可靠性
- GaN基白光LED电极的失效机制被引量：6
- 2016年
- 对负电极脱落造成白光LED失效进行了研究。结合扫描电子显微镜(SEM)和能谱分析(EDS)对退化样品芯片进行了表面形貌表征和微区成分分析。SEM观察到退化样品负极脱落处表面粗糙不平,且透明导电薄膜存在颗粒状结晶。经EDS检测发现负极脱落处存在腐蚀性氯元素,并在封装胶中检测出氯。分析认为,封装胶中残留的氯离子与负极中Al层发生的电化学腐蚀是致使样品失效的主要原因。
- 夏云云文尚胜方方
- 关键词：LED电极
