胡铁力
- 作品数：37 被引量：61H指数：4
- 供职机构：西安应用光学研究所更多>>
- 发文基金：国防科技工业技术基础科研项目更多>>
- 相关领域：电子电信理学机械工程文化科学更多>>
- 常温面源黑体有效发射率均匀性校准方法
- 本发明公开了一种常温面源黑体有效发射率的均匀性校准方法，属于红外光学计量测试领域。该方法通过镓熔融点黑体的熔融温度、铟凝固点黑体的凝固温度来校准变温标准黑体，从而获得变温标准黑体在常温范围内的有效发射率-温度关系曲线，据...
- 胡铁力李旭东薛战礼谢毅李宏光闫晓宇岳文龙
- -60℃～80℃面源黑体辐射特性校准系统被引量：3
- 2002年
- 分析面源黑体及其辐射特性校准在红外热像仪研制、航天红外遥感及民用领域等的需求背景。提出一种基于光谱辐亮度比对的 - 6 0℃～ 80℃面源黑体辐射特性校准装置 。
- 胡铁力朱明义朱铭桂付建明王学新
- 关键词：校准系统黑体面源黑体红外热像仪
- 热像仪测试设备仪器常数测量技术
- <正>热像仪测试设备中最关键的部分是红外差分准直辐射系统,红外差分准直辐射系统由红外准直光管及位于其焦面上的面源黑体、多种红外靶标等组成。对于典型的单黑体型差分准直辐射系统,热像仪测试设备仪器常数等于面源黑体(靶标)发射...
- 胡铁力马世帮李四维张成王正强郭羽张玫
- 关键词：热像仪平行光管面源黑体发射率测试设备
- 便携式红外光谱辐射计的光学结构特性被引量：1
- 1999年
- 介绍几种国外典型的红外光谱辐射计和自行研制的便携式红外光谱辐射计的光学结构及主要性能，并提出红外光谱辐射计中的一些应重点解决的技术问题。
- 梁培胡铁力
- 关键词：光学结构红外探测器
- 卡塞格林系统调焦时成像晃动的研究被引量：1
- 2016年
- 卡塞格林系统观测不同距离目标时需要用螺纹微调旋转次镜的方法来改变焦距以获得清晰的像,但次镜随螺纹旋转会导致系统成像的周期性晃动,这在许多高精度光学仪器中是不允许的。针对该问题,分析了系统成像周期性晃动的影响因素并给出具体的运算公式。通过具体事例结合工厂加工水平,分析出该加工精度下的最大可能偏差,若其不在仪器误差允许范围内,就需采用无旋转的次镜微调机构。结果说明,用旋转次镜的微调机构产生的晃动半径有0.65mm,而用无旋转的次镜微调机构产生的晃动半径只有0.13mm,系统精度得到较大提高。
- 杨峰郭羽胡铁力赵宝珍李四维辛舟
- 关键词：焦距次镜
- 中温黑体的光谱法测量被引量：2
- 1998年
- 采用光谱法测量黑体可以同时得出黑体的温度和发射率。一些难以测温的和无法测温的黑体可以用光谱法对其性能进行测量。光谱法是使用红外光谱辐射计测出参照和待测黑体的辐亮度比值，然后用求解普朗克公式的方法得出温度和发射率值。
- 梁培朱明仪胡雪梅朱铭桂付建明岳文龙闫晓宇胡铁力
- 关键词：非接触测温温度发射率
- 用于四杆靶标扫描的红外辐射计
- 本发明公开了一种用于四杆靶标扫描的红外辐射计，属于红外光学计量与光电检测领域。该红外辐射计在传统红外辐射计的基础上增加了一个单向缩小镜，该单项缩小镜是由焦距之比为1：n的两个柱面镜组构成的望远系统,并将柱面镜组的柱高方向...
- 胡铁力郭羽刘瑞星马世帮吴李鹏常伟军
- 一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法
- 本发明公开了一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法，包括以下步骤：1：从输入图像序列中的每一行，选取采样点；2：将每个采样点的灰度值，与其上下邻近行的像素分别取差值，并将所有差值的绝对值取和，得到该行与上下邻近行的灰度阶...
- 杨科王磊磊柯诗剑刘建平康臻薛媛元赵俊成李辉牛静胡铁力郭羽阴万宏
- 常温面源黑体TEC阵列制冷设计
- <正>常温面源黑体是大口径黑体,其辐射口径一般在100毫米以上,目前最大的常温面源黑体辐射口径为1m×1m。随着温度测控技术以及发射率工艺的有效提高,面源黑体在红外成像、辐射测量技术等领域已经得到比点源黑体更为广泛的应用...
- 胡铁力吴李鹏辛舟李四维高瑜郭宇马世帮吴沛
- 关键词：面源黑体发射率阵列探测器制冷设计TEC
- 红外热成像系统调制传递函数(M TF)测试研究被引量：13
- 2006年
- 为了能对红外热成像系统的性能进行准确的评价,必须对其MTF进行准确测试。利用高精度双黑体反射靶标评估系统,并依据刀口靶测试原理,首先在计算机中进行微分运算,获得线扩展函数,然后再进行傅里叶变换,最终获得MTF。通过对CED ITⅡA型热像仪MTF的测试和分析,发现MTF的测试主要受输入差分信号强度,脉冲电平的去除与否,以及采集到的信号是否滤波等因素的影响。该测试评估系统能保证背景辐射的均匀性和稳定性,且受环境温度变化的影响极小,因此可大大提高测量的准确性和可靠性。
- 李旭东惠渭生胡铁力付建明
- 关键词：红外热成像系统
