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袁华

作品数:4 被引量:1H指数:1
供职机构:飞索半导体更多>>
相关领域:电子电信医药卫生更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇医药卫生

主题

  • 3篇有限元
  • 3篇预处理
  • 3篇可靠性
  • 2篇有限元分析
  • 2篇塑封
  • 1篇阴道
  • 1篇阴道分泌物
  • 1篇早产
  • 1篇早产预测
  • 1篇组件
  • 1篇可靠性分析
  • 1篇可靠性评估
  • 1篇宫颈
  • 1篇宫颈阴道
  • 1篇宫颈阴道分泌...
  • 1篇分泌
  • 1篇分泌物
  • 1篇IL-8
  • 1篇MMP-8

机构

  • 4篇苏州大学
  • 2篇飞索半导体

作者

  • 4篇袁华
  • 2篇钱敏
  • 1篇曹云鹏
  • 1篇杨翠军

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子与封装

年份

  • 2篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2007
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
塑封组件可靠性测试中加速浸润方法的研究
2010年
在对塑封集成电路进行封装可靠性评估中,预处理过程是必经的步骤,其中的浸润测试通常在非加速条件下进行,耗时较长。在市场竞争日趋激烈的环境下,企业迫切需要缩短新产品的可靠性验证时间。针对JEDEC(电子器件工程联合委员会)和JEITA(日本电子信息技术协会)标准中涉及到的三种加速浸润条件,以组件在非加速条件下(JEDECLevel3和JEITARankE)潮气的穿透力、吸收量及由此产生的失效为参照,确定在加速条件下,组件达到同样的潮气吸收量并产生相类似的失效所需的时间;同时应用有限元分析的方法进行建模和计算,并与实际的测量结果比较验证。
袁华钱敏曹云鹏杨翠军
关键词:可靠性预处理有限元分析
加速浸润方法在塑封可靠性分析中的应用被引量:1
2010年
在对塑封集成电路进行封装可靠性评估中,预处理过程(precondition)是必经的步骤。其中的浸润测试(soak)通常在非加速条件下进行,其耗时较长。在市场竞争日趋激烈的环境下,企业迫切需要缩短新产品的可靠性验证时间。文章针对JEDEC(电子器件工程联合委员会)和JEITA(日本电子信息技术协会)标准中涉及到的三种加速浸润条件,以组件在非加速条件下(JEDEC Level 3和JEITA Rank E)潮气的穿透力、吸收量及由此产生的失效为参照,确定在加速条件下,组件达到同样的潮气吸收量并产生相类似的失效所需的时间。同时应用有限元分析的方法进行建模和计算,并与实际的测量结果比较验证。
袁华钱敏
关键词:可靠性预处理有限元分析
半导体塑封器件在可靠性试验中加速浸润方法的研究
在对塑封器件进行器件级(component level)的可靠性评估中,预处理(precondition)中的浸润(soak)往往都是选择非加速的条件进行,其耗时较长,在市场竞争日趋激烈的环境下,企业迫切需要缩短新产品在...
袁华
关键词:可靠性评估预处理有限元
文献传递
宫颈阴道分泌物IL-8和MMP-8与早产关系的研究
目的:探讨宫颈阴道分泌物中IL-8和MMP-8与早产的关系。 方法:收集42名妊娠28-36<'+6>周并诊断为先兆早产的孕妇(研究组)和40名同期且孕龄相仿的正常孕妇(对照组)的宫颈阴道分泌物,采用ELISA...
袁华
关键词:宫颈阴道分泌物IL-8MMP-8早产预测
文献传递
共1页<1>
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