您的位置: 专家智库 > >

顾婉玉

作品数:5 被引量:2H指数:1
供职机构:合肥工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家教育部博士点基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 5篇数据压缩
  • 5篇测试数据
  • 5篇测试数据压缩
  • 1篇低功耗
  • 1篇低功耗测试
  • 1篇电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇功耗
  • 1篇功耗测试

机构

  • 5篇合肥工业大学
  • 2篇阜阳师范学院

作者

  • 5篇顾婉玉
  • 4篇梁华国
  • 3篇徐三子
  • 1篇刘杰

传媒

  • 2篇计算机研究与...

年份

  • 1篇2011
  • 4篇2010
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案被引量:2
2010年
随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率.
徐三子梁华国顾婉玉刘杰
关键词:测试数据压缩
基于扫描的低功耗测试方法研究
随着半导体技术的发展,集成电路的复杂性越来越高,由此导致了测试数据量的不断增大、测试功耗的不断提高以及测试时间的持续增长,这都给集成电路测试带来了巨大的挑战,造成了测试成本的提高,本文主要针对测试过程中测试数据压缩以及降...
顾婉玉
关键词:集成电路低功耗测试测试数据压缩
一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法
2010年
提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑.
顾婉玉梁华国徐三子
关键词:测试数据压缩
一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法
提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需...
顾婉玉梁华国徐三子陈田王伟
关键词:测试数据压缩
文献传递
基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案
随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型,...
徐三子梁华国顾婉玉刘杰
关键词:测试数据压缩
文献传递
共1页<1>
聚类工具0