于德强
- 作品数：24 被引量：7H指数：2
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：机械工程电子电信理学文化科学更多>>
- 透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置
- 本实用新型公开了一种透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面...
- 姜宏振郑芳兰刘勇刘旭李东杨一陈竹任寰张霖周信达郑垠波原泉石振东巴荣声李文洪于德强袁静丁磊马可马玉荣冯晓璇陈波杨晓瑜
- 文献传递
- 反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置
- 本实用新型公开了一种反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面...
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- 一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法
- 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数...
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- 光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究
- <正>在利用显微散射暗场成像技术对光学元件表面疵病进行定量检测的过程中,由于浅划痕的成像亮度与背景光强非常接近,因此若对疵病图像直接进行二值化处理,将无法有效提取其中的划痕特征,从而造成划痕长度的误判或漏检,影响定量检测...
- 郑芳兰姜宏振于德强李东刘旭刘勇
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- 透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置
- 本实用新型公开了一种透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面...
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- 透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置
- 本实用新型公开了一种透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型双波长全息术的光学元件高景深表面...
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- 一种微观元件外观缺陷的检测装置及检测方法
- 本发明公开了一种微观元件外观缺陷的检测装置，包括：二自由度微动平台，用于装载、调整待测微观元件；图像采集装置，其用于拍摄待测微观元件并获得待测微观元件的表面图像；图像数据处理与运动控制单元，用于获取、分析表面图像以及确定...
- 姜宏振李艺刘旭刘勇贺思敏于德强于劭洁郑芳兰柴立群
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- 中口径测试光斑条件下光学元件激光损伤阈值测量不确定度分析与评定
- <正>随着ICF激光驱动器技术的不断发展,对高功率激光驱动器负载能力的要求越来越高,而光学元件激光损伤阈值的大小直接影响着激光装置的负载能力,因此光学元件激光损伤阈值成为高功率固体激光装置中光学元件的关键指标之一。为了保...
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- 光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究
- 2015年
- 对于光学元件表面的浅划痕缺陷,在利用显微散射暗场成像技术对其进行定量检测的过程中,由于其成像亮度与背景光强非常接近,因此对疵病图像直接进行二值化处理将无法有效提取其中的划痕特征,从而影响定量检测结果的准确性。为了解决上述问题,提出了一种对于浅划痕长度的准确定量分析方法,其通过将疵病图像与背景图像相减后得到目标图像,进而对目标图像进行二值化处理和分析即可得到浅划痕的准确长度信息。该方法对于光学元件表面疵病的定量检测具有重要的意义和应用。
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- 关键词：二值化处理
- 电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法
- 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（1...
- 李东刘勇刘旭姜宏振张霖郑芳兰任寰杨一李文洪石振东于德强巴荣声马骅原泉周信达郑垠波杨晓瑜柴立群陈波
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