田玉珺
- 作品数：8 被引量：5H指数：1
- 供职机构：西安工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金陕西省教育厅科研计划项目更多>>
- 相关领域：理学电子电信机械工程更多>>
- 紫外光辐照对TiO_2薄膜光学性能的影响被引量：1
- 2013年
- 采用电子束热蒸发技术在不同工艺下制备了TiO2薄膜,利用椭偏仪和分光光度计研究了紫外光辐照后薄膜光学特性的变化。实验结果表明:不同工艺下制备的TiO2薄膜经相同条件的紫外光辐照后,其折射率均有所下降,折射率的变化量随着沉积速率上升、基底温度上升、工作真空度下降分别有增大的趋势。薄膜的透射率在紫外光辐照后有一定下降。相同工艺条件下制备的TiO2薄膜,其折射率随着辐照时间的增加,先迅速降低,随后又有所增加,但均低于辐照前薄膜的折射率。
- 潘永强白涛田玉珺
- 关键词：光学特性紫外光辐照
- 聚焦光在亚表面损伤介质中的散射特性被引量：4
- 2014年
- 针对光学元件的亚表面缺陷,结合基于激光共焦层析的亚表层检测方法,建立聚焦光束在亚表面损伤介质中的传输模型,并采用有限元分析方法,仿真研究K9玻璃光学元件亚表层缺陷对聚焦光束的散射调制特性,特别对颗粒状和微裂纹两类特殊缺陷的光学调制特性进行研究和分析,探索了波长、缺陷大小、缺陷折射率及缺陷方向对聚焦光束散射特性的影响规律,通过分析包含亚表面损伤缺陷信息的光场分布图和强度变化曲线,获得了亚表面损伤缺陷的信息,并对其进行评价。
- 田爱玲田玉珺王春慧潘永强王红军刘丙才朱学亮
- 关键词：有限元法光散射光学元件
- 光学元件亚表层损伤的散射探测研究
- 光学元件的亚表层损伤是指光学元件在研磨及抛光加工过程中在表面下产生的微裂纹和残余应力。对于抛光光学元件亚微米量级的表面损伤,光在损伤处会产生强烈的散射效应,其在像面的分布情况不能简单地使用几何光学进行解释。本文针对光学元...
- 张英鸽田爱玲田玉珺
- 关键词：光学元件光场分布
- 文献传递
- 光在亚表面损伤介质中的传播特性研究
- 光学元件的亚表面损伤降低了光学材料的性能，直接影响光学系统的重要功能指标，阻碍其进一步发展。基于光散射法的激光共焦显微检测方法是一种快速、便捷、精确的亚表面无损检测方法，它利用亚表面损伤对入射光的散射调制信号分析光学元件...
- 田玉珺
- 关键词：光学元件有限元法光散射法
- 文献传递
- 光学元件亚表层损伤的散射探测研究
- 光学元件的亚表层损伤是指光学元件在研磨及抛光加工过程中在表面下产生的微裂纹和残余应力。对于抛光光学元件亚微米量级的表面损伤，光在损伤处会产生强烈的散射效应，其在像面的分布情况不能简单地使用几何光学进行解释。本文针对光学元...
- 田爱玲张英鸽田玉珺
- 关键词：光学元件光场分布
- 光在亚表面损伤层中的传播特性研究
- 光学零件的亚表层损伤直接影响到光学零件的使用性能、长期稳定性、抗激光损伤阈值和使用寿命等重要性能指标,而造成这些危害的根本原因就是损伤层对入射光散射引起的。本文基于有限元方法,从损伤层对入射光的散射和光在损伤层中传播的基...
- 田玉珺田爱玲王春慧王红军刘丙才朱学亮
- 关键词：光散射光学元件
- 文献传递
- 一种光学材料亚表面损伤层深度及形貌测量方法
- 本发明涉及光学精密测量技术领域，特别是一种亚表面损伤层厚度的测量方法，首先将样品装夹在匀速运动的装夹机构上，控制装夹机构使样品浸入HF酸溶液，直到样品完全没入溶液；迅速从溶液提出样品，并使用探针式轮廓仪测量腐蚀后的剖面，...
- 田爱玲王春慧田玉珺王红军朱学亮刘丙才
- 文献传递
- 一种光学材料亚表面损伤层深度及形貌测量方法
- 本发明涉及光学精密测量技术领域，特别是一种亚表面损伤层厚度的测量方法，首先将样品装夹在匀速运动的装夹机构上，控制装夹机构使样品浸入HF酸溶液，直到样品完全没入溶液；迅速从溶液提出样品，并使用探针式轮廓仪测量腐蚀后的剖面，...
- 田爱玲王春慧田玉珺王红军朱学亮刘丙才
- 文献传递
