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饶文雄

作品数:7 被引量:44H指数:5
供职机构:大连理工大学物理与光电工程学院物理系更多>>
发文基金:国家自然科学基金辽宁省科学技术基金辽宁省科技厅资助项目更多>>
相关领域:理学电子电信机械工程化学工程更多>>

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学
  • 3篇电子电信
  • 2篇化学工程
  • 2篇机械工程
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 4篇光谱
  • 4篇波导
  • 3篇光波
  • 3篇放大器
  • 3篇波导放大器
  • 2篇荧光谱
  • 2篇光波导放大器
  • 2篇光致
  • 2篇光致发光
  • 2篇光致发光谱
  • 2篇发光
  • 2篇AL
  • 1篇调制
  • 1篇氧化铝薄膜
  • 1篇液晶
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇增益
  • 1篇制作方法
  • 1篇双向泵浦

机构

  • 7篇大连理工大学

作者

  • 7篇饶文雄
  • 7篇李淑凤
  • 7篇宋昌烈
  • 6篇李成仁
  • 2篇高景生
  • 1篇张庆瑜
  • 1篇宋琦
  • 1篇孙捷
  • 1篇雷明凯
  • 1篇胡礼中

传媒

  • 2篇光电子.激光
  • 2篇光学技术
  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇物理学报
  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2004
  • 4篇2003
  • 2篇2002
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
两片掺铒玻璃样品级联荧光光谱的实验研究被引量:15
2003年
介绍一种掺铒玻璃样品的制作方法 ,实验测量了单片及两片掺铒玻璃样品的荧光特性 .结果表明 :两片掺铒玻璃样品级联的荧光强度比单片掺铒玻璃样品的荧光强度高 ,半值宽度与高浓度单片样品的半值宽度近似相等 ;在两片掺铒玻璃样品级联的形式中 ,浓度高的样品靠近抽运光源时的荧光强度比浓度低的样品靠近抽运光源时的荧光强度高 ;两种低浓度样品组合的荧光强度相对于其单片样品荧光强度的增幅比两种高浓度样品组合的荧光强度相对于其单片样品荧光强度的增幅要高 .
李成仁宋昌烈饶文雄李淑凤
关键词:级联制作方法掺铒光波导放大器全光通信网
外部扰动信号对混合光学双稳系统中混沌的调制
2002年
以液晶体作为非线性介质 ,构建了混合光学双稳模型系统。在外部正弦信号扰动下 ,利用应用功能强大的工程计算数值分析软件Matlab 5 3,数值研究了正弦调制对液晶混合光学双稳系统中混沌特性的影响。结果表明 ,在正弦信号的调制下 ,系统状态出现了周期 1、周期 2、间歇性混沌及多种演化模式 ,呈现了一系列新的动力学效应。研究发现 ,幅度调制的影响不仅比相位调制的影响要大 。
李成仁李淑凤饶文雄宋昌烈
关键词:液晶混沌调制
高掺铒硅酸盐玻璃样品净增益特性测量被引量:2
2004年
实验测量了高掺铒硅酸盐玻璃样品的吸收谱、光致发光谱,计算出信号光的净增益。结果表明:随泵浦功率的增大,净增益先呈线性增加后逐渐出现饱和;对样品的掺铒浓度、泵浦功率进行了比较优化;掺铒浓度0.8at%的样品得到了最大3.9dB的净增益。
高景生宋昌烈李成仁李淑凤饶文雄宋琦
关键词:光致发光谱波导放大器净增益
掺铒玻璃样品的荧光谱测量被引量:7
2002年
介绍一种掺 Er3+玻璃样品的制作方法。测量掺 Er3+玻璃样品的透射光和反射光的荧光谱特性、样品在双向泵浦时的荧光谱特性及吸收谱特性。实验结果表明 ,透射光的荧光谱强度大于反射光的荧光谱强度 ;当反射光实验中掺 Er3+玻璃样品的背面贴有镀 Al反射镜时 ,反射光荧光谱强度则大于透射光荧光谱强度 ;双向泵浦的荧光谱证明 。
李成仁宋昌烈饶文雄李淑凤
关键词:双向泵浦吸收谱
掺Er Al_2O_3光波导薄膜材料的制备及光学特性被引量:12
2003年
 介绍了掺ErAl2O3光波导薄膜的四种典型制备方法的研究结果。比较铒的发光环境和发光特性,分析了影响光致发光强度和寿命的条件和因素。不同工艺制得的Er∶Al2O3薄膜,膜内成分、膜的晶相、掺杂浓度等对Er3+的发光特性均有影响。退火对发光特性及材料具有改善作用。
李淑凤宋昌烈李成仁饶文雄雷明凯
铒镱共掺杂玻璃样品的荧光谱特性被引量:16
2003年
介绍一种制作Yb3+/Er3+共掺杂玻璃样品的工艺。实验测量和分析了Yb3+/Er3+玻璃样品的荧光光谱和吸收谱。对Yb3+/Er3+系统的能量转移以及978nm波长泵浦下不同Yb3+/Er3+浓度配比样品的光谱特性进行了讨论。结果表明,当Yb3+浓度为Er3+浓度(0.5at.%)的9倍时,荧光强度最强。
饶文雄宋昌烈李成仁李淑凤高景生张庆瑜
关键词:光致发光谱荧光谱
化学液相沉积法制备Al_xO_y薄膜被引量:7
2003年
给出了用化学液相沉积法 (CLPD)制备AlxO y/Si薄膜的方法 ,室温下生长 2h得到AlxO y/Si薄膜 ,其退火温度为 10 0 0℃ ,退火时间 2h .对薄膜的显微硬度、成分和结构进行了检测和分析 .结果表明 ,薄膜的显微硬度在退火前为 5 2 0 2 .0N/mm2 ,退火后为 14 5 33.5N/mm2 ,增加近 3倍 ;高温退火去掉了膜内的OH-1,同时使薄膜晶化 ,晶体薄膜的O/Al比例为 1 3.
饶文雄孙捷宋昌烈李成仁李淑凤胡礼中
关键词:氧化铝薄膜光波导放大器显微硬度晶化
共1页<1>
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