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刘伟明

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域：电子电信冶金工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇国内会议论文

领域

  • 6篇电子电信
  • 2篇冶金工程

主题

  • 3篇电子器件
  • 3篇热冲击
  • 3篇热冲击试验
  • 3篇微电子
  • 3篇微电子器件

机构

  • 6篇信息产业部电...

作者

  • 6篇刘伟明
  • 3篇李世安
  • 3篇谢有守
  • 3篇陈新苹

传媒

  • 2篇中国电子学会...
  • 2篇中国电子学会...
  • 2篇2000电子...

年份

  • 2篇2004
  • 4篇2000
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
吹尘试验中粉尘浓度测量技术研究
本文介绍了在吹尘试验中进行粉尘浓度测量的方法及标定。
陈新苹李世安刘伟明
文献传递
微电子器件热冲击试验及其试验设备
该文介绍了微电子器件热冲击试验方法及其试验设备的造反为了确定微电子器件对军用衣空间应用的自然因素和条件的抗损坏能力而进行的基本环境试验：物理和电试验：设计封装和材料的限制；标志的一般要求：工作质量和人员培训程序；以及为保...
谢有守刘伟明
关键词：微电子器件热冲击试验
文献传递网络资源链接
吹尘试验中粉尘浓度测量技术研究
该文介绍了在吹尘试验中进行粉尘浓度测量的方法及标定。
陈新苹李世安刘伟明
文献传递网络资源链接
微电子器件热冲击试验及其试验设备
本文介绍了微电子器件热冲击试验方法及其试验设备的选择。
谢有守刘伟明
文献传递
吹尘试验中粉尘浓度测量技术研究
该文介绍了在吹尘试验中进行粉尘浓度测量的方法及标定。
陈新苹李世安刘伟明
文献传递
微电子器件热冲击试验及其试验设备
该文介绍了微电子器件热冲击试验方法及其试验设备的造反为了确定微电子器件对军用衣空间应用的自然因素和条件的抗损坏能力而进行的基本环境试验：物理和电试验：设计封装和材料的限制;标志的一般要求：工作质量和人员培训程序;以及为保...
谢有守刘伟明
关键词：微电子器件热冲击试验
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