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刘恺

作品数：9 被引量：23H指数：4
供职机构：烟台大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学核科学技术化学工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 9篇中文期刊文章

领域

  • 7篇理学
  • 1篇化学工程
  • 1篇核科学技术

主题

  • 6篇全反射
  • 4篇TXRF
  • 3篇荧光
  • 2篇荧光分析
  • 2篇灵敏度
  • 2篇敏度
  • 2篇X射线荧光
  • 2篇X射线荧光分...
  • 1篇低含量
  • 1篇釉料
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱仪
  • 1篇痕量
  • 1篇痕量元素
  • 1篇痕量元素分析
  • 1篇分析装置
  • 1篇粉末
  • 1篇高灵敏
  • 1篇高能
  • 1篇XRF

机构

  • 9篇烟台大学
  • 1篇中国科学院近...

作者

  • 9篇郑素华
  • 9篇刘恺
  • 4篇邬旭然
  • 4篇王瑞光
  • 4篇田宇纮
  • 1篇马国立
  • 1篇田宇紘
  • 1篇谭继廉
  • 1篇王国栋
  • 1篇付克明
  • 1篇田宇宏

传媒

  • 1篇分析化学
  • 1篇现代科学仪器
  • 1篇光谱实验室
  • 1篇核技术
  • 1篇核化学与放射...
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇测试技术学报
  • 1篇核电子学与探...
  • 1篇烟台大学学报...

年份

  • 1篇2001
  • 2篇1999
  • 2篇1998
  • 1篇1997
  • 2篇1996
  • 1篇1995
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
基于全反射原理的X荧光分析技术及其应用研究被引量：9
1999年
本文简单介绍了一种目前我国应用很少但很有竞争力的新兴元素分析方法——全反射Ｘ荧光（ＴＸＲＦ）分析技术，我们自行研制的分析装置的最低检测限，对于Ｃｕ靶、Ｍｏ靶达到ｐｇ级，其相对检测限达到ｎｇ／ｇ。作为应用范例，还叙述了一种海洋软体动物“牙齿”的定量分析，并给出了相应的Ｘ荧光谱图和分析结果。
刘恺邬旭然郑素华
关键词：TXRFX射线荧光分析
全反射X荧光分析技术的应用被引量：4
1997年
简要地介绍了全反射Ｘ荧光分析技术和一台小型全反射Ｘ荧光分析装置。这台装置的最低检出限对于Ｃｏ元素在Ｃｕ靶Ｘ光管激发下是７ｐｇ，对Ｓｒ元素、Ｍｏ靶是３０ｐｇ。对自来水，海洋动物、头发等进行了应用分析实验。
刘恺郑素华王瑞光张郁辉
关键词：全反射X荧光XRF
一台小型全反射X荧光分析装置的研制
1996年
介绍了全反射Ｘ荧光分析技术的基本原理、特点．用自行设计研制的一台小型全反射Ｘ荧光装置对原样人发、考古样品等进行了测试、分析，分析灵敏度达几十ｐｇ～ｐｇ级．
田宇纮王瑞光刘恺郑素华王景云
关键词：全反射灵敏度
全反射X荧光分析及其应用被引量：2
2001年
全反射X荧光 (TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术 ,由于其快速、灵敏度高、可同时分析多个元素 ,近年来得到了迅猛发展。本文简要介绍了该仪器的结构。
田宇紘马国立王国栋郑素华刘恺付克明
关键词：TXRF光谱仪
小型高灵敏全反射X荧光分析仪的研制被引量：2
1996年
研制出一台由双激发源、双二次全反射光路、样品传输和真空系统、数据获取和分析系统组成的小型低功率高分析灵敏度的全反射Ｘ荧光分析仪。在Ｃｕ靶、Ｍｏ靶和Ｗ靶（Ｌ线系）Ｘ光管激发下，分析灵敏度依次为０．００７ｎｇ、０．０５ｎｇ和０．０８ｎｇ，采用特殊的全反射光路后，在低功率运行条件下，同样能达到高的分析灵敏度，使体积小型化成为可能。两套激发源及相应的两套全反射光路的切换使用，对Ｚ≥１４的元素均可进行有效的分析。对装置特点、性能测试及在不同领域的应用进行了介绍和讨论。
田宇纮王瑞光王志国刘恺郑素华
关键词：全反射
低含量多元素物质的快速全反射X荧光分析被引量：1
1999年
本文介绍了用全反射Ｘ荧光分析仪对样品量很少、元素含量很低、多元素溶液的分析，测定了从含量最多的Ｎａ（２４３μｇ／ｍＬ）到含量最少的Ｃｕ（０．０６μｇ／ｍＬ）的１２种元素。
田宇宏刘恺邬旭然郑素华王景云马国立
关键词：全反射X射线荧光分析TXRF
用TXRF技术分析镍基溶液中的痕量元素
1998年
本文介绍了应用自制全反射X荧光分析仪,测定了镍基溶液中痕量杂质元素Fe、Co、Cu、Zn、Pb,其中元素最小含量在10^(-1)μg/ml量级。配制的标准样品中Pb的含量最低,0.050μg/ml,分析结果为0.069μg/ml,偏差为±38％。为了减小测量误差,采取用化学方法降低镍含量的措施。降镍稀释处理后的Pb的含量最小,0.015g/ml,还原到原液含量为0.87μg/ml。
刘恺郑素华邬旭然田宇纮
关键词：痕量元素分析全反射
全反射X荧光分析技术研究被引量：6
1995年
建立了全反射 X 荧光分析技术,采用了特殊的全反射系统。充分有效地利用初始射线。使在小柬流条件下。达到较高的探测灵敏度。对二次全反射系统的结构进行了研究。选取了合适的结构。对钼激发和铜激发全反射形成的条件和高能切割现象进行了研究。研究了不同石英材料做的样品托(二级反射器)的杂质含量和对测量的影响进行了测试分析。以钴和钇元素为样品分别对铜激发和钼激发条件下的最小探测限进行了测量。分别达到0.6×10^(-9)和2.2×10^(-9)(6和2pg)。在此基础上分析了水质样品、油类样品、矿样等不同性质样品,研究了不同样品的制备方法,本文给出了全反射条件的建立。样品的制备、测试、灵敏度测试等结果并对其进行了讨论。
田宇纮谭继廉郑素华王瑞光刘恺潘晓文
关键词：全反射灵敏度
用全反射X荧光技术分析釉药粉末被引量：4
1998年
刘恺邬旭然郑素华田宇纮
关键词：釉料
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共1页<1>
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