吴峰
- 作品数：3 被引量：3H指数：1
- 供职机构：中国科学技术大学化学与材料科学学院中国科学院结构分析重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学更多>>
- Al/Ge双层膜分形晶化及阻抗特性研究被引量：2
- 1997年
- 本文用高分辨透射电镜ＨＲＥＭ（ＪＥＯＬ２０１０）观察了Ａｌ／Ｇｅ双层膜的分形行为及其微结构特征，并采用四探针法对具有不同分形维数薄膜样品的电阻率进行了测量。
- 吴峰张庶元陈志文谭舜李凡庆
- 关键词：铝锗阻抗
- Al/Ge双层膜分形晶化及阻抗特性研究
- ＜正＞本文用高分辨透射电镜 HREM（JEOL-2010）观察了 Al/Ge 双层膜的分形行为及其微结构特征,并采用四探针法对具有不同分形维数薄膜样品的电阻率进行了测量,获得了一些有探讨价值的实验结果。
- 吴峰张庶元陈志文谭舜李凡庆
- 文献传递
- Au/a-Ge双层膜分形晶化的TEM原位研究被引量：1
- 1998年
- 对Au/a_Ge双层膜的分形晶化行为在透射电子显微镜 (TEM )中进行了原位观测 .实验证据表明 :分形生长过程中 ,潜热起着十分重要的作用 ,分形枝权的延伸发展 ,是沿着富Ge区连续晶化的结果 .Au ,Ge原子的短程互扩散也同时存在 ,但Au晶粒的聚集 ,抑制了a_Ge向分形区中的p_Ge团簇的扩散 .TEM原位观测的实验事实 ,可以用随机逐次成核 (RSN)模型予以阐明 ,但不排除扩散对分形形成的影响 ,两种机制同时作用于薄膜中的分形晶化 。
- 张庶元陈志文谭舜吴峰
- 关键词：金属半导体双层膜TEM
