吴长发
- 作品数：11 被引量：8H指数：2
- 供职机构：华中理工大学光电子工程系更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信更多>>
- 线性棱镜激光扫描器L值的解析寻优
- 1993年
- 直角棱镜激光扫描器具有优良的线性特性,本文分析了转矩L值对扫描精度的影响,导出了解析求解L的计算分式和寻优的步骤与方法,实际计算了两组数据,给出了相应的特征曲线。
- 吴长发方罗珍
- 关键词：棱镜激光扫描器光检测技术
- 灵活使用光学设计程序的探讨
- 1992年
- 讨论了如何使用常规光学设计程序追迹衍射光线和计算Fθ透镜的畸变像差,从而说明灵活使用光学设计程序的意义和作用。
- 吴长发
- 关键词：像差衍射光线
- 全自动光刻机自动对准与激光扫描光学系统
- 1991年
- 本文首先概述了全自动光刻机的对准光学系统,接着详细阐述了激光扫描实时检测对准误差的基本原理,分析了扫描对准光学系统的设计要求,讨论了设计时应该遵循的原则、设计方法、设计步骤和有关方案,并给出了部分测试结果.
- 吴长发
- 关键词：光刻机激光光学系统VLSI
- 磁性薄膜磁畴图像的傅里叶光谱被引量：1
- 1998年
- 提出一种快速估测大面积磁性薄膜磁畴结构的方法──傅里叶光谱分析法．利用偏振光透射半透明磁性薄膜产生的法拉第旋转效应，让穿过磁性薄膜后具有不同偏振面的光再经过检偏器，调整检偏器的晶轴方向使之与某一部分光的偏振面垂直，于是一部分偏振光消光，而另一部能够通过，在足够远处便得到了代表磁性薄膜畴结构的衍射光谱，这种方法可用于磁性薄膜畴参数估计及磁性薄膜畴壁动态特性研究．
- 陈善宝张志强吴长发
- 关键词：磁性薄膜
- Fθ,Fourier透镜畸变像差分析与计算方法的研究被引量：1
- 1991年
- 本文分析了Fθ透镜和Fourier变换透镜畸变像差的特性;讨论了用常规成像光学系统像差计算程序准确计算这两类特殊透镜、特别是高精度Fθ透镜畸变像差的两种行之有效的方法,给出了有关的计算公式.
- 吴长发
- 关键词：透镜像差计算程序
- 光学频谱面定位精度与定位方法的研究被引量：2
- 1997年
- 用Ｆｏｕｒｉｅｒ光学的理论分析了光学频谱面定位的理论精度，导出了相应的公式，提出了一种用Ｍｏｉｒｅ偏转术精密定位谱面的新方法，可以方便地将实际定位误差控制在理论精度范围内，实例表明相对定位精度达０．０２５％。
- 吴长发陶景光方罗珍
- 关键词：光学信息处理
- 准直离焦法测量短焦透镜的焦距
- 1992年
- 首先分析了常规Moire偏转术测量透镜焦距的局限,提出了用准直离焦与Moire偏转术相结合的方法测量短焦透镜的焦距,给出了两组透镜的测试计算结果,讨论了测量方法的原理性误差。
- 吴长发廖兆曙陶景光
- 关键词：准直透镜
- 光学信息处理系统的精密调整被引量：1
- 1992年
- 提出一种简单易行的方法精密调整Fourier光学系统的光路,其中包括照明光束的准直,物面、谱面、象面三个特征平面的精密定位,其定位精度均在允许的最大离焦范围内。
- 吴长发陶景光方罗珍
- 关键词：透镜光学系统信息处理
- 莫尔条纹同向法测量透镜焦距被引量：3
- 1993年
- 本文利用干涉条纹和Rochi光栅形成的莫尔条纹在离透镜2倍焦距方向不变的原理测量凸透镜焦距。该法精度高,操作极其简单。
- 吴长发廖兆曙杨坤涛陶景光
- 关键词：光栅透镜焦距
- 直角棱镜扫描器分析
- 1991年
- 用旋转直角棱镜系统可以同时替代传统f—θ透镜系统和旋转多面体反射镜两个光学部件,实现高精度的光束恒速扫描。本文对此旋转直角棱镜系统进行了较为全面的分析,主要包括原理分析,线性系数k值的确定,参数误差的影响等,并且给出了一些计算结果。
- 孟剑奇吴长发
- 关键词：直角棱镜扫描器透镜
