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张珺

作品数:4 被引量:3H指数:1
供职机构:上海大学更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 2篇学位论文
  • 1篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇准饱和效应
  • 2篇功率管
  • 2篇VDMOS
  • 1篇单晶
  • 1篇导通
  • 1篇导通电阻
  • 1篇电路
  • 1篇电路结构
  • 1篇电阻
  • 1篇源极
  • 1篇支撑函数
  • 1篇数学
  • 1篇数学规划
  • 1篇凸体
  • 1篇凸体几何
  • 1篇平面型
  • 1篇终端区
  • 1篇小尺寸
  • 1篇漏极
  • 1篇晶体管

机构

  • 4篇上海大学

作者

  • 4篇张珺
  • 2篇徐志平
  • 2篇程东方
  • 1篇沈伟星

传媒

  • 1篇应用科学学报

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2005
  • 2篇2004
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
平面型VDMOS功率管的设计与研究
功率VDMOSFET是功率电力电子器件的主流产品之一.它在大功率开关、功率放大器等领域中的应用日益广泛.VDMOSFET具有高输入阻抗,低导通电阻,大输出电流,开关速度快,工作频率高,无二次击穿,安全工作区宽,跨导线性好...
张珺
关键词:VDMOSFET准饱和效应
文献传递
投影体与仿射不变量U(P)的极值性质
本论文选题隶属于凸几何分析(convex Geometric Analysis)学科,凸几何分析在诸多领域都有着广泛的应用背景.凸几何分析通常被称为凸几何(ConVex Geometry)或凸分析(convex Anal...
张珺
关键词:凸体几何仿射不变量支撑函数数学规划
文献传递
小尺寸功率VDMOS晶体管中准饱和效应的研究被引量:2
2005年
分析了功率VDMOS晶体管在小尺寸时准饱和效应的成因,并对其进行了理论证明和模拟验证.研究结果表明,在晶体管导通状态下,由于寄生JFET电阻Rj和MOS沟道电阻Rch的分压作用,致使在MOS沟道内载流子漂移速度由饱和变为不饱和,而在寄生JFET沟道中载流子漂移速度由不饱和变为饱和,造成器件在高栅源电压VGS时,器件漏端电流IDS大小与栅源电压VGS无关,从而形成准饱和效应.
张珺程东方徐志平
关键词:VDMOS准饱和效应导通电阻
MOS功率管的栅极保护装置
本实用新型涉及一种MOS功率管的栅极保护装置,它制作在MOS功率管的终端区硅单晶衬底上,其特征在于电路结构是:在MOS功率管的栅极(G)与源极(S)之间和栅极(G)与漏极(D)之间,分别各连接一对取向相反的PN结二极管。...
徐志平程东方沈伟星张珺
文献传递
共1页<1>
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