车晶
- 作品数：5 被引量：9H指数：2
- 供职机构：南京理工大学电子工程与光电技术学院更多>>
- 发文基金：国防科技技术预先研究基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 二代像增强器 MCP 的 XPS 分析被引量：2
- 1998年
- 为降低微通道板（ＭＣＰ）的噪声，提高二代像增强器的产品成品率，该文利用Ｘ光电子能谱（ＸＰＳ）对二代倒像管和近贴管的ＭＣＰ电极表面进行组份分析。实验发现用氩离子（Ａｒ＋）溅射３ｍｉｎ后，在近贴管的ＭＣＰ电极表面检测不到碱金属元素钾（Ｋ）、钠（Ｎａ），而在倒像管ＭＣＰ电极表面Ｋ的含量为２．１６％，Ｎａ的含量为５．６４％，且在ＭＣＰ电极表面发现铅（Ｐｂ）原子谱峰。实验分析认为，ＭＣＰ电极表面吸附的碱金属Ｋ，Ｎａ与从ＭＣＰ体内偏析于表面的Ｐｂ是二代像增强器背景噪声的主要来源之一。
- 车晶杨伟毅李晓峰常本康
- 关键词：像增强器微通道板能谱分析X光电子能谱
- 二代微光像增强器噪声分析及工艺改进
- 车晶
- 关键词：像增强器微通道板多碱光电阴极温差法
- Ⅱ代像增强器等效背景噪声特性的研究被引量：3
- 2001年
- 该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属蒸气对 MCP的污染 ,从而使 代像增强器信噪比达 5.0
- 常本康雷远清车晶郭良崔开源
- 关键词：光电阴极电极表面X射线光电子能谱噪声特性XPS
- 微通道板电极表面的XPS分析被引量：6
- 1998年
- 为探索微通道板的噪声来源，利用X射线光电子能谱对国内和国外MCP电极表面进行组分分析。实验发现，在国外MCP电极表面上只检测到Ni，Cr，C，O等原子谱峰，而在国内的MCP电极表面还检测到K，Na，Si等原子谱峰，且在国产未镀电极的MCP表面检测出K的原子谱峰。分析认为，MCP体内的K有向表面偏析的现象；MCP电极表面上的杂质，如K，Na，Si等是MCP噪声来源之一；国产MCP表面的杂质不仅与MCP镀膜材料纯度、系统真空度有关，而且还与电极膜层的致密性有关。
- 车晶李晓峰杨伟毅常本康
- 关键词：微通道板电极表面X射线光电子能谱
- 温差法降低碱金属对倒像管沾污的研究被引量：1
- 2001年
- 所谓温差法就是在制备 2 0 / 30倒像管多碱阴极过程中 ,将像管后半部分套一可控温小电炉 ,使荧光屏和微通道板(MCP)等部位的温度始终比阴极基底高 10 0℃左右 ;阴极制备结束后 ,取下管内的MCP进行XPS分析 ,同时还与用标准工艺制备阴极后取下的MCP进行对比分析。XPS谱图表明 ,前者检测到的Na为 3 0 7% ,K为 2 2 3% ,Cs为 0 0 0 % ;后者检测到的Na为 6 32 % ,K为 2 70 % ,Cs为 0 36 %。实验说明 ,在制备阴极过程中 ,阳极筒和荧光屏端温度高于阴极面激活温度 ,使得吸附在MCP电极表面以及阳极筒等高温部件的碱金属 ,尤其是Na的含量降低。从而说明温差法是降低碱金属蒸气对像管内其它部件的污染 ,改善背景噪声的有效方法之一。
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- 关键词：微通道板X光电子能谱温差法像增强器
