辛洪政
- 作品数:8 被引量:24H指数:4
- 供职机构:重庆大学数理学院更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:理学机械工程电子电信金属学及工艺更多>>
- X射线ICT检测中康普顿散射效应的影响与修正被引量:3
- 2004年
- 在X射线工业计算机层析检测(ICT)中,由于X射线与物质作用发生康普顿散射效应,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。运用康普顿散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,推出X射线ICT中的散射修正公式,并由圆形截面工件散射模型,求出圆形截面工件的具体计算积分限。从探测器探测到的总光子数中减去康普顿散射光子数,即可有效去除散射光子造成的伪影。
- 彭光含杨学恒辛洪政
- 关键词:X射线检验
- IPC-205B型扫描隧道显微镜的硬件系统设计及其应用拓展研究
- 本论文研究的主要内容包括:研究了STM扫描控制系统设计的基本理论,寻找出电路中适于引入其他装置以增加新功能的工作点;根据扫描隧道谱(STS)相关实验方式,在IPC-205B型机的反馈回路中引入控制开关,并借助外围设备(函...
- 辛洪政
- 关键词:扫描隧道显微镜原子力显微镜函数信号发生器
- 文献传递
- 扫描隧道显微镜在隧道谱微观无损检测中的应用被引量:1
- 2005年
- 用扫描隧道显微镜(STM)研究了三种样品扫描隧道谱.记录和分析了三种样品的隧道电流与偏压的相关变化关系的隧道谱谱学性质.结果三种样品的隧道谱重叠得很好,表明STM在隧道谱无损检测研究中有广泛的应用,也为STM在隧道谱学研究提供了实验基础和理论分析方法.
- 彭光含杨学恒辛洪政
- 关键词:STM隧道谱隧道效应
- 高精度STM.IPC-205BJ型原子力显微镜的设计被引量:5
- 2007年
- 在成功研制高精度IPC-205B型STM基础上对硬件设计和软件配备进行改进,研制开发了更高精度和应用更广的原子力显微镜。阐述该原子力显微镜的工作原理、组成及应用,详细介绍镜体的独特设计与控制过程、微悬臂的制作与工作过程。该样机采用简单适用的新型微悬臂,利用扫描隧道显微镜检测微悬臂的起伏,通过四维机械驱动和双压电陶瓷扫描,能够有效提高扫描精度、扩大扫描范围。该原子力显微镜的分辨力为:横向0.1nm,纵向0.01 nm。给出该机型检测的几种样品的扫描图像。
- 彭光含杨学恒辛洪政刘济春李旭
- 关键词:原子力显微镜微悬臂硬件设计
- 高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜的设计及应用被引量:7
- 2004年
- 为提高STM的工作效率、解决原始图象难于理解的问题,在一种STM新机型中对硬件设计和软件配备进行了改进。通过引入自动进车、自动停车与锁定装置,实现了进入隧道状态的半自动化。通过借用A/D转换卡的倒T电阻网络,实现了程控快速扫描。配备了独立开发的专用软件用于图象处理,应用此软件处理获得的扫描图象,可以更精确、更形象、更直观的获取样品表面信息。把典型样品的扫描图象与已有知识和已确认的结果比较,可以判断出新机型的分辨本领为:横向0.1nm,纵向0.01nm。给出了用该机型获得的几种样品的扫描图象。
- 辛洪政彭光含杨学恒
- 关键词:扫描隧道显微镜硬件设计半自动图象处理
- 纳米金刚石的STM观测及其导电机理被引量:4
- 2006年
- 用IPC-205B型扫描隧道显微镜(STM)获得了纳米金刚石的三维表面形貌图和扫描隧道谱(STS).把绝缘体金刚石纳米化处理后,在一定的偏压下,获得了纳米金刚石的STM三维形貌图,观测了纳米金刚石表面形貌微观结构,测得了纳米金刚石的扫描隧道谱,估算出纳米金刚石的能隙宽度,并对纳米金刚石隧道谱和导电机理进行了分析.STM/STS实验不仅较好地解释了纳米金刚石导电性能的谱学机理,拓展了STM的应用领域,而且还可以作为绝缘材料纳米化处理后纳米晶粒结构及其能谱特征分析的重要研究手段.
- 彭光含杨学恒刘济春李旭辛洪政刘安平
- 关键词:STMSTS纳米金刚石能隙
- 高精度扫描隧道显微镜对纳米碳酸钙特性的研究被引量:2
- 2006年
- 用高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜测得纳米碳酸钙的扫描隧道谱。该隧道谱表明,纳米碳酸钙具有半导体性质,与普通碳酸钙相比,其导电性能有了明显改善。由纳米碳酸钙隧道谱得出纳米碳酸钙的禁带宽度为0.4eV,比半导体硅的禁带宽度1.1eV的低。
- 彭光含杨学恒李旭刘济春辛洪政
- 关键词:扫描隧道显微镜禁带宽度
- 一种高精度多功能双用原子力显微镜技术及应用被引量:5
- 2008年
- 主要研究了一种基于高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜(STM)的新型高精度多功能双用原子力显微镜(AFM)技术及其应用。阐述该原子力显微镜的工作原理、组成及应用,详细介绍了该AFM镜体的独特结构和新型微悬臂的制作及其检测方法。该AFM采用简单适用的新型微悬臂。并利用STM检测微悬臂的起伏,通过四维机械驱动和双压电陶瓷扫描,有效提高了扫描精度,扩大了扫描范围。该机型集AFM和STM功能为一体,其中STM可以单独使用。该机型检测精度可达:横向0.1 nm,纵向0.01 nm。并用该样机进行了样品表面形貌和隧道谱的实验研究。
- 彭光含杨学恒刘济春李旭辛洪政
- 关键词:原子力显微镜微悬臂隧道谱