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杨成军

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:西北轻工业学院自动控制工程系更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 1篇单晶
  • 1篇英文
  • 1篇顺磁
  • 1篇顺磁质
  • 1篇赝势
  • 1篇赝势法
  • 1篇相变
  • 1篇结构和光学特...
  • 1篇光学
  • 1篇光学特性
  • 1篇SIC
  • 1篇磁化
  • 1篇磁化特性

机构

  • 2篇西北轻工业学...
  • 1篇西安交通大学

作者

  • 2篇姜振益
  • 2篇杨成军
  • 2篇张方辉

传媒

  • 1篇西北轻工业学...
  • 1篇陕西科技大学...

年份

  • 1篇2001
  • 1篇2000
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
YbBi_2单晶的磁化特性研究
2000年
研究了 Yb Bi2 单晶磁化强度和温度的关系以及 Yb Bi2 单晶在 2 K时的磁化特性 .实验发现 Yb Bi2 单晶在 2 K以上没有表现出超导电性 ;在 1 .5 K以上 Yb Bi2 单晶是一种顺磁质 ;它在 5 5
张方辉姜振益杨成军
关键词:顺磁质相变磁化特性
SiC多型体的电子结构和光学特性研究(英文)
2001年
在局域密度近似下 ,采用平面波超软赝势法对 Si C多型体的能带和光谱特性进行了研究。计算了 4种 Si C多型体的能带、介电常数等并进行了比较。计算表明 :4H-Si C导带最低点在布里渊区 M点 ,6H-Si C导带最低点在布里渊区 ML 线上 U( 0 ,0 .1 76,0 ) ( 2 π/ a)点。在布氏区垂直于 Z轴方向的AH和 L H段能带是二重简并的。能带得介电常数的计算表明 Si C是各向异性材料。局域密度近似下的密度泛函理论对能隙的计算结果小于实验结果。
姜振益张方辉杨成军
关键词:SIC赝势法光学特性
共1页<1>
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