伍凡
- 作品数：252 被引量：653H指数：16
- 供职机构：中国科学院光电技术研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：机械工程理学自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 计算机数字控制大型集成光学加工机构
- 一种计算机数字控制大型集成多功能加工机构,可用于加工大型光学镜头。该加工机构由基座上骑跨立柱和横梁,以及横梁上安装多种光学加工磨头、抛光盘等组成。基座的平行导轨上安装工件转台,计算机数字控制系统控制多个伺服系统驱动转台、...
- 杨力姜文汉伍凡曾志革郑耀
- 文献传递
- 一种高精度高次非球面透镜偏心测定系统及方法
- 本发明提供一种高精度高次非球面透镜偏心测定系统及方法，包括相移干涉仪、干涉仪调整架、被测非球面透镜、透镜支架、透镜调整架、对心器、精密旋转轴系、对心器调整架、直线导轨及计算机系统，被测非球面透镜固定在透镜支架上，支架固定...
- 刘海涛曾志革伍凡范斌万勇建侯溪
- 文献传递
- 用于大口径非球面的波前功率谱密度检测被引量：1
- 2006年
- 光学元件加工质量的检测和评价工作是保证整个光学系统安全、正常运行的关键。在总结非球面常用检验指标优、缺点的基础上,讨论了测量大口径非球面的波前功率谱密度时的系统组成、工作原理和软件设计的总体思路。为了减少系统误差的影响,求解波前功率谱密度时,通过引入系统传递函数校正测量值来实现。使用大口径相位干涉仪作为波前检测仪器,证实波前功率谱密度能定量给出波前畸变的空间频率分布,并用于作为大口径光学元件质量的评价标准。给出一个测试口径为64mm×64mm光学元件测试结果,有效频率为0.03mm-1～3.87mm-1,rms为0.0064λ。
- 陈伟陈伟姚汉民伍凡吴时彬
- 关键词：功率谱密度光学检测空间频率
- 用于圆形口径光学元件的功率谱密度检测
- 光学元件加工质量的检测和评价是保证整个光学系统安全、正常运行的关键。波前功率谱密度(Power Spectral Density,PSD)能给出光学表面的空间频谱分布,反映高精度光学元件加工质量的特殊要求。在总结现有功率...
- 陈伟姚汉民伍凡朋汉林吴时彬
- 关键词：功率谱密度光学检测空间频率
- 文献传递
- 计算机控制大型非球面修带机械手
- 2005年
- 该发明专利是一种计算机控制大型非球面修带机械手。该机械手由三部分组成：(1)底座支架——为磨头在光学镜面提供径向直线运动、变速及定位的直线运动部分；(2)为磨头提供摆动速度、摆幅等的磨头摆动部分；(3)为磨头自转提供需要的磨削转速的磨头转动部分及控制部分。直线运动部分安装在底座支架的上端，并与磨头摆动部分一端相接。磨头摆动部分的另一端安装着磨头转动部分。控制部分通过伺服系统分别控制直线运动部分、磨头摆动部分及磨头转动部分。
- 伍凡郑耀吴时彬高平起
- 关键词：计算机控制机械手非球面光学镜面伺服系统磨头
- 中心遮拦非球面主镜Seidel像差拟合分析的优化被引量：5
- 2006年
- 中心遮拦干涉图的圆Zernike多项式拟合存在交叉耦合现象,进而影响到Seidel像差的计算。利用干涉仪数据处理软件提供的Mask功能构造出一系列不同遮拦比的中心遮拦干涉图并计算出其圆Zernike拟合系数,结合自编软件判断出被测非球面镜的中心遮拦比对于5项Seidel像差是否达到阈值,给出了具体的实现流程,并对口径为700 mm、中心遮拦比为0.23的抛物面主镜进行了实验研究。分析结果表明,该优化分析方法简单易行,基于标准干涉数据处理软件,无需编写复杂的数据格式转化和多项式拟合程序,即可得到相对较准确的Seidel像差估计值。
- 侯溪伍凡杨力吴时彬陈强
- 关键词：光学测量ZERNIKE多项式
- 确定工艺参数与工件表面频谱分布特性的方法
- 确定工艺参数与工件表面频谱分布特性的方法，涉及一种从空间频谱角度分析光学元件制造误差，尤其是表面面形中高频误差与工艺参数的定性定量关系，利用信息处理技术对测试仪器所获取的光学元件的制造误差数据进行处理，采取一维功率谱密度...
- 陈伟姚汉民伍凡万勇建范斌朋汉林
- 文献传递
- 大口径透镜凸面零检验的补偿器设计被引量：1
- 1997年
- 根据三级像差理论，推导学透镜补偿器在检验光路中几种形式下的初始结构参数计算公式，并给出设计实例。
- 伍凡
- 关键词：大口径透镜补偿器光学仪器
- 一种微透镜阵列焦距的测量方法
- 本发明提供一种微透镜阵列焦距的测量方法，该方法结合清晰度函数定焦分析，利用光栅衍射分光的原理测量微透镜阵列焦距，平行入射光经过光栅后，由于高级次衍射光光强较小可忽略，其出射光被分成3束：0级、+1级和-1级，通过测量光栅...
- 朱咸昌伍凡曹学东吴时彬
- 文献传递
- 基于PMD的反射镜面检测实验分析被引量：13
- 2013年
- 将相位测量偏折术应用于非球面反射镜面形检测,并对实验检测结果的中高频误差进行了分析研究。计算机产生正弦性条纹图,并且显示在薄膜场效应晶体管显示屏上。摄像机通过被测反射镜观察并拍摄显示屏上的条纹图。利用相移技术和相位展开技术计算得到相位分布。以相位信息为载体对光线进行追迹,并根据反射定律得到面形梯度分布,由数值积分重建面形分布。最后使用泽尼克多项式拟合分析了其中高频误差。
- 赵文川范斌伍凡苏显渝陈文静
- 关键词：面形测量非球面镜条纹分析
