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吴培亨

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：华南师范大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文专利

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇探测器
  • 3篇光子
  • 3篇光子探测器
  • 2篇电路故障
  • 2篇数据库
  • 2篇微型计算机控...
  • 2篇计算机控制
  • 2篇光子计数
  • 2篇测试矢量
  • 2篇测试数据
  • 2篇测试数据库
  • 1篇单光子
  • 1篇电路
  • 1篇电路芯片
  • 1篇短路
  • 1篇短路故障
  • 1篇芯片
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路芯片
  • 1篇鉴别器

机构

  • 3篇华南师范大学

作者

  • 3篇潘中良
  • 3篇吴培亨
  • 3篇陈翎
  • 2篇李炜

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一种集成电路故障的单光子检测方法及检测系统
本发明提供一种集成电路故障的单光子检测方法及检测系统。检测方法是通过对被测电路施加设定的测试矢量，使得在故障处有信号的变迁，从而导致产生微弱的发光，采用单光子探测器对故障的这种微弱发光进行探测。检测系统包括被测集成电路、...
潘中良陈翎李炜吴培亨
一种测试集成电路的单光子探测装置
本实用新型公开了一种测试集成电路的单光子探测装置。该装置包括用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、放大器、用于减少暗电流及其干扰的鉴别器、控制单元、用于采集光子数目的计数单元和显示单元；其中，用于对单光子探测器...
潘中良陈翎吴培亨
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一种集成电路故障的单光子检测方法及检测系统
本发明提供一种集成电路故障的单光子检测方法及检测系统。检测方法是通过对被测电路施加设定的测试矢量，使得在故障处有信号的变迁，从而导致产生微弱的发光，采用单光子探测器对故障的这种微弱发光进行探测。检测系统包括被测集成电路、...
潘中良陈翎李炜吴培亨
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