张俊莲
- 作品数：3 被引量：5H指数：1
- 供职机构：华南师范大学物理与电信工程学院更多>>
- 发文基金：广东省工业攻关项目广东省科技计划工业攻关项目更多>>
- 相关领域：理学机械工程更多>>
- 一种测量散射光偏振度的新方法
- 2007年
- 利用二氧化硅微粒样品作散射粒子场,寻求测量散射光偏振度的新方法。实验结果表明,用线偏振光分两次测量的偏振叠加法,比传统用自然光入射,偏振片作检偏器测量偏振度的方法更优越,不但节省了测量成本,而且提高了测量的范围。
- 梁美怡丁友根尹凤婷张俊莲刘斌彭力
- 关键词：散射偏振度偏振光
- 椭偏测厚仪确定薄膜真实厚度的分析被引量：5
- 2008年
- 用椭偏测厚仪可以测量薄膜一个周期内的厚度和折射率.本文从理论上分析了采用变入射角确定薄膜的真实厚度时,存在最大可测厚度周期数和最大可测薄膜真实厚度,同时用图形形象描述了周期数、厚度周期、一个周期内的厚度、真实厚度之间的关系及它们与入射角的关系.
- 张俊莲黄佐华朱映彬
- 纳米级颗粒散射光偏振度研究
- 纳米级颗粒粒度的测量一直是颗粒测量技术研究的热点,因此,研究纳米级颗粒散射光的偏振度,探寻颗粒粒径与其散射光偏振度之间的关系是具有重要现实意义的。Mie散射理论是解决颗粒光散射的普适理论,可以根据Mie散射理论计算得到颗...
- 彭力杨冠玲梁美怡丁友根张俊莲
- 文献传递
