王佩玲
- 作品数：7 被引量：93H指数：5
- 供职机构：中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
- 相关领域：理学更多>>
- X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究被引量：5
- 2006年
- 用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小;用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度,计算结果与标准值符合得较好。
- 韩小元卓尚军王佩玲陶光仪
- 关键词：X射线荧光光谱
- 高纯钽的辉光放电质谱多元素分析被引量：23
- 2007年
- 采用辉光放电质谱法（GD-MS）同时测定了高纯钽样品中76种元素，比较了两种不同构造放电池的影响。大多数元素的常规分析检测限在1～5ng·g^-1主要金属杂质含量与采用ICP-MS法定量分析的结果一致，这表明GD-MS对高纯钽样品无需标样的快速分析有较高的准确度。
- 陈刚葛爱景卓尚军王佩玲
- 关键词：钽
- XRF中激发电位和靶材对散射效应增强荧光强度的影响研究被引量：9
- 2007年
- 采用一组熔融片样品研究了由不同的X光管激发电位和不同的X光管靶材(Cr靶和Rh靶)所导致的入射X射线能量及强度分布变化对3种散射效应增强荧光强度的影响规律。研究的散射增强包括相干散射激发的荧光强度、非相干散射激发的荧光强度以及其他方向的一次荧光被散射进探测方向的强度。研究结果表明,对于采用的熔融片,相干散射效应和一次荧光被散射进探测器方向增强效应对荧光强度的贡献随X光管激发电位增大而减小,用Cr靶原级谱激发比用Rh靶原级谱激发贡献大;而非相干散射效应对荧光强度的贡献则随X光管激发电位增大而增大,用Rh靶原级谱激发比用Cr靶原级谱激发贡献大;3种散射效应对荧光强度的总贡献随X光管激发电位增大而增大,在Rh靶原级谱激发条件下比用Cr靶原级谱激发贡献大。
- 韩小元卓尚军申如香王佩玲
- 关键词：X射线荧光光谱靶材荧光增强
- X射线荧光光谱中散射效应对荧光强度的贡献研究被引量：5
- 2007年
- 采用理论计算和实验测定的方法研究了在纯元素样品、BaB二元样品及熔融片样品中三种散射效应对荧光强度的贡献(包括相干散射X射线激发的荧光强度、非相干散射X射线激发的荧光强度以及其他方向的一次荧光X射线被散射进探测方向的强度)大小及其变化规律。研究结果表明,三种散射效应对荧光强度的贡献大小与所研究元素原子特征谱线的能量及样品的基体有关,元素原子的特征谱线能量越高,散射效应对荧光强度的贡献越大;轻基体样品中散射效应对荧光的贡献比重基体样品大。实验证明,将散射效应包括在基本参数法的理论计算中可以有效地提高理论计算的准确度。
- 韩小元卓尚军申如香王佩玲
- 关键词：X射线荧光光谱荧光增强
- X射线荧光光谱检测多层薄膜样品的增强效应研究被引量：7
- 2006年
- 研究了X射线荧光光谱检测多层薄膜样品的增强效应。根据多层膜中的X荧光强度理论计算公式编写了计算机程序,并计算了Zn/Fe和Fe/Zn双层膜样品中不同薄膜厚度时FeKα的一次荧光强度、二次荧光强度、二次荧光与一次荧光强度比以及二次荧光在总荧光强度中比例。研究发现,在多层膜样品的X射线荧光分析中,激发条件不变的情况下,元素谱线的一次荧光相对强度、二次荧光相对强度和二次荧光在总荧光强度中所占比例都随薄膜厚度及位置的变化而变化。当Fe和Zn层厚度相同时,随厚度的变化,对于Fe/Zn样品,FeKα二次荧光强度占总荧光强度最高为9%,而对于Zn/Fe样品这一比例最高可达35%。
- 韩小元卓尚军王佩玲
- 关键词：X射线荧光光谱
- X射线荧光光谱法表征薄膜进展被引量：21
- 2006年
- X射线荧光光谱法表征薄膜样品以其能同时测定样品的组分和厚度等优点,目前在国内外的研究和应用越来越广泛和深入。文章通过从荧光强度理论计算、基体效应和校正方法、分析误差来源及消除、定量分析软件和实际分析应用等几个方面对X射线荧光光谱法表征薄膜样品的研究作了评述。鉴于薄膜样品制备相似标样比较困难,而基本参数法采用非相似标样表征薄膜的准确度较高,因此基本参数法校正薄膜样品的应用比较广泛。重点介绍了基本参数法的荧光强度理论计算公式的发展、计算误差来源以及分析软件应用。展望了X射线荧光光谱法表征薄膜样品的应用前景和发展方向。
- 韩小元卓尚军王佩玲
- 关键词：X射线荧光光谱法
- 辉光放电质谱法在无机非金属材料分析中的应用被引量：37
- 2004年
- 辉光放电质谱法 (GDMS)作为一种固体样品直接分析技术 ,已广泛应用于金属、半导体等材料的痕量和超痕量杂质分析。近年来 ,随着制样方法和离子源装置的改进 ,GDMS同样也能很好地应用于玻璃、陶瓷、氧化物粉末等非导体材料的成分分析。简介了GDMS的基本原理和分析特点 。
- 陈刚葛爱景卓尚军王佩玲
- 关键词：辉光放电质谱无机非金属材料痕量分析
