您的位置： 专家智库 > >

王胜国

作品数：11 被引量：1H指数：1
供职机构：复旦大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术理学化学工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 10篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 1篇化学工程
  • 1篇理学

主题

  • 7篇电路
  • 5篇可制造性
  • 5篇集成电路
  • 3篇电路技术
  • 3篇失效率
  • 3篇集成电路技术
  • 3篇SRAM
  • 2篇亚微米
  • 2篇亚微米工艺
  • 2篇深亚微米
  • 2篇深亚微米工艺
  • 2篇抛光
  • 2篇抛光工艺
  • 2篇椭球
  • 2篇椭球体
  • 2篇微米工艺
  • 2篇线性电路
  • 2篇晶体管
  • 2篇晶体管模型
  • 2篇互信息

机构

  • 11篇复旦大学

作者

  • 11篇王胜国
  • 10篇曾璇
  • 8篇严昌浩
  • 4篇周电
  • 3篇周海
  • 2篇李潇
  • 2篇吴震宇
  • 2篇杨帆
  • 1篇沈悦

年份

  • 2篇2022
  • 1篇2021
  • 3篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2002
共 11 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
一种基于贝叶斯模型的SRAM电路良率分析方法
本发明属集成电路技术领域，涉及集成电路可制造性设计中静态随机存储电路良率分析方法，本方法中，首先使用互信息和序列二次规划，对高维SRAM电路的扰动空间进行降维，实现高维SRAM电路最佳平移矢量的快速计算；然后建立低维和高...
曾璇严昌浩王胜国周海周电翟金源
文献传递
一种采用自适应网格划分和滑动窗口技术快速计算SRAM失效概率的方法
本发明属半导体可制造性设计领域，具体涉及考虑深亚微米工艺扰动的SRAM快速失效概率仿真计算方法。本方法中，通过在参数空间内进行椭球体变换，并采用自适应网格划分和滑动窗口方法，该方法能大幅减小采样量，获得符合精度要求的SR...
曾璇严昌浩王胜国吴震宇
文献传递
一种基于序列二次规划方法统一框架的哑元填充方法
本发明属集成电路半导体制造技术领域，涉及化学机械抛光工艺哑元填充方法。本发明方法为一种统一的、不进行模型近似的哑元填充方法，应用序列二次规划方法对哑元填充问题进行直接求解，可获得高质量的哑元填充结果。本发明在具体实现中提...
曾璇严昌浩王胜国陶育东
文献传递
晶体管精确近似表格查找模型的建模和估值方法
本方法属于集成电路领域，涉及一种晶体管精确近似表格查找模型的建模和估值方法。通过建立非线性电路中晶体管的非均匀网格表格模型，借助简单的哈希映射和辅助的查找表实现仿真过程中待估点的快速查找及其对应物理参数的估值。该方法继承...
曾璇王胜国杨帆李潇
一种基于贝叶斯模型的SRAM电路良率分析方法
本发明属集成电路技术领域，涉及集成电路可制造性设计中静态随机存储电路良率分析方法，本方法中，首先使用互信息和序列二次规划，对高维SRAM电路的扰动空间进行降维，实现高维SRAM电路最佳平移矢量的快速计算；然后建立低维和高...
曾璇严昌浩王胜国周海周电翟金源
一种采用自适应网格划分和滑动窗口技术快速计算SRAM失效概率的方法
本发明属半导体可制造性设计领域，具体涉及考虑深亚微米工艺扰动的SRAM快速失效概率仿真计算方法。本方法中，通过在参数空间内进行椭球体变换，并采用自适应网格划分和滑动窗口方法，该方法能大幅减小采样量，获得符合精度要求的SR...
曾璇严昌浩王胜国吴震宇
一种基于序列二次规划方法统一框架的哑元填充方法
本发明属集成电路半导体制造技术领域，涉及化学机械抛光工艺哑元填充方法。本发明方法为一种统一的、不进行模型近似的哑元填充方法，应用序列二次规划方法对哑元填充问题进行直接求解，可获得高质量的哑元填充结果。本发明在具体实现中提...
曾璇严昌浩王胜国陶育东
文献传递
环氧树脂颗粒相增韧与均相增韧的研究及比较
该文对橡胶颗粒相增韧与均相增韧环氧树脂进行了研究及比较.选用的体系是HTBN、CTBN及它们的预反应产物和聚丙烯酸丁酯（PBA）增韧环氧树脂;研究均相增韧时选用了不同链长的脂肪族饱和二元酸改性环氧树脂.测试了这些改性体系...
王胜国
关键词：环氧树脂增韧网络结构聚丙烯酸丁酯
文献传递
一种针对大规模SRAM阵列电路后仿真的高效良率分析方法
本发明属于集成电路技术领域，涉及一种针对大规模SRAM阵列电路后仿真的高效良率分析方法。本发明利用小规模SRAM阵列电路和大规模SRAM阵列电路的相关性，将小规模SRAM电路作为低置信度源，大规模SRAM电路作为高置信度...
曾璇严昌浩王胜国周电沈悦
一种基于非高斯采样的SRAM电路良率分析方法
本发明属于集成电路可制造性设计中静态随机存储电路良率分析领域，具体采用一种通用帕累托和高斯联合分布作为实际采样分布函数族，通过最小化实际采样分布和理想采样分布之间的交叉熵，从而获得最优的实际采样分布参数。使用优化后的实际...
曾璇严昌浩王胜国周海周电翟金源
文献传递
全选 清除 导出
共2页<12>
聚类工具0