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文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 3篇双向可控硅
  • 3篇可控硅
  • 2篇电路
  • 2篇电路仿真
  • 2篇象限
  • 2篇可靠性
  • 2篇触发方式
  • 1篇时域
  • 1篇时域反射仪
  • 1篇自整角机
  • 1篇触发

机构

  • 4篇北京航空航天...
  • 2篇青岛海尔智能...
  • 1篇中航工业北京...
  • 1篇北京绿安依科...

作者

  • 4篇谢劲松
  • 4篇郭伟
  • 3篇孙晓君
  • 2篇何晶靖
  • 1篇孙博
  • 1篇陈颖

传媒

  • 1篇微电机
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇科技资讯
  • 1篇中国航空学会...

年份

  • 3篇2008
  • 1篇2007
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
不同的触发方式对于可控硅可靠性的影响被引量:1
2008年
本文研究的目的在于测试在不同触发方式条件下的可控硅脉冲对其可靠性的影响。
郭伟谢劲松孙晓君何晶靖
关键词:双向可控硅触发方式
自整角机灌封线圈的失效定位和分析被引量:1
2007年
针对内部具有灌封线圈结构的自整角机难于确定失效部位的问题,提出了采用物理方法和时域反射仪(TDR,Time Domain Reflectometry)技术对其进行失效定位和分析的方法。对发生失效的某型自整角机案例样品,确定了其转子绕组内包括滑环与导线焊点、粗导线与细导线焊点以及细导线绕组在内的断路失效部位。通过热应力模拟实验,对造成该型电机失效的可能原因进行了分析。
孙博郭伟陈颖谢劲松张长林宋玉清
关键词:时域反射仪自整角机
双向可控硅不同象限触发方式可靠性探究被引量:4
2008年
针对双向可控硅在不同触发象限条件下的触发特性进行了实验研究,考察了可控硅在上述条件下的不同触发特性,明确了各种象限触发之间的特性差异,并重点通过对上述各种触发情况进行pspice建模,解释了实验中所观察到的可控硅在不同象限情况下存在触发特性差异的原因。为后续的不同象限触发对于可控硅的使用可靠性和寿命影响的研究提供了理论和试验依据。
郭伟谢劲松孙晓君何晶靖石均姜德志
关键词:可控硅电路仿真
双向可控硅不同象限触发特性研究
本文针对双向可控硅在不同触发象限条件下的触发特性进行了实验研究,考察了可控硅在上述条件下的不同触发特性,明确了各种象限触发之间的特性差异,并重点通过对上述各种触发情况进行pspice建模,解释了实验中所观察到的可控硅在不...
郭伟谢劲松孙晓君何晶靖石均 姜德志
关键词:双向可控硅电路仿真
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