刘红超
- 作品数：11 被引量：45H指数：4
- 供职机构：中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术化学工程机械工程更多>>
- iC多型体X射线定量分析的Rietveld方法被引量：2
- 1997年
- 鉴于ＳｉＣ多型体的主要衍射线完全重叠，用常规Ｘ射线粉末衍射方法确定ＳｉＣ陶瓷材料中多型体含量的分布是非常困难的．提出以Ｘ射线粉末衍射全谱拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法进行ＳｉＣ多型体定量分析，阐述了原理及方法．对含３Ｃ，４Ｈ，６Ｈ和１５Ｒ４种多型体衍射数据的定量分析结果表明：Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法可对ＳｉＣ材料中常见多型体的定量分析给出准确的结果．还给出了各自的标准偏差。
- 刘红超郭常霖
- 关键词：碳化硅陶瓷材料
- 含硫化合物的SK_αX射线荧光光谱的研究被引量：4
- 1996年
- 在RIGAKU 3070X射线光谱仪(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK_a谱;用统计试验最优化方法处理实验数据,得到了谱峰的峰位,非对称因子,半高宽度等信息;并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷.讨论了硫化合物SK_a谱化学位移的变化规律及原因.线性回归分析结果表明:硫化物SK_a谱的化学位移与价态,硫的含氧化合物SK_a谱的化学位移与O/S原子数比之间都有较好的线性关系;并给出了线性相关系数及线性方程.
- 刘红超吉昂陶光仪马光祖王庆广
- 关键词：X射线荧光光谱化学位移硫化合物
- Bi_4（SiO_4）_3晶体结构的X射线粉末衍射研究
- 1996年
- 在Ｘ射线衍射仪上收集了Ｂｉ_４（ＳｉＯ_４）_３的衍射数据；利用Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法对衍射数据进行指标化，Ｆ_（３０）＝１５８．９０；确定了Ｂｉ_４（ＳｉＯ_４）_３的晶体结构参数。结果发现：该结构中硅氧四面体是变形的孤立四面体，其中两个Ｏ－Ｓｉ－Ｏ键角为１０７．１３°，而另两个为１１４．２６°，详细报道了晶体结构，给出了晶体结构图；提出Ｂｉ离子最外层孤对的６ｓ２电子的存在是形成这种变形配位多面体的原因。
- 刘红超郭常霖吕光烈
- 关键词：晶体结构X射线衍射
- X射线粉末衍射全谱拟合及其在无机材料科学中的应用研究
- 刘红超
- 关键词：无机材料晶体结构
- 硫化合物中硫K-Beta谱研究被引量：4
- 1995年
- 作者应用加了限制垂直发散准直器的Philips PW1404型X-射线荧光分析仪测定了多种含硫化合物中SK_β谱及其卫星线,谱获取后以统计实验最优化方法处理,获得SK_β和SK_(β＇)谱峰值.结果表明硫酸盐中SK_β和SK_(β＇)谱峰值能量差与分子轨道理论DV-Xα方法计算结果相一致.可应用SK_β和SK_β—SK_(β＇)能量差判别化合物中硫的价态及硫与相邻原子结合的类型.作者还根据二苯基硫巴腙的SK_β谱讨论了它的结构.
- 吉昂刘红超陶光仪王庆广马光祖
- 关键词：X-射线荧光光谱硫化合物
- X射线多晶衍射全谱图拟合方法在无机材料研究中的应用被引量：11
- 1996年
- Ｘ射线多晶衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法．本文介绍了该方法的基本原理，综述了该方法在无机材料结构研究领域，包括相交、缺陷、相的晶体结构和微结构、相定量分析及衍射图谱指标化等方面应用的最新进展．
- 刘红超郭常霖
- 关键词：无机材料晶体结构X射线衍射
- SrNi_xV_(6-x)O_(11)的合成和晶体结构
- 1997年
- AV_6O_11(A为碱金属或碱土金属)型结构化合物令人感兴趣的是其结构上3+和4+离子的分布及转换和其性能上表现出的金属导电性及铁磁性.研究这类物质的结构对了解和改善其性能,研究材料化学一般规律都有很重要的意义.De Roy等采用电解方法首次合成NaV_6O_11,并确定了其晶体结构,但其空间群后来被证实是错误的.Kanke等得到了SrV_6O_11及V离子被Ti,Cr和Fe等部分取代的化合物的晶体结构和X射线粉末衍射数据,以求了解不同取代离子对晶体结构和性能的影响;后来又通过SrV_6O_11,NaV_6O_11单晶样品得到了各自的晶体结构.最近。
- 刘红超郭常霖屠恒勇
- 关键词：晶体结构X射线粉末衍射碱土金属化合物
- Rietveld方法中高角数据截断对结果的影响被引量：1
- 1997年
- Rietveld方法是研究晶体结构和微结构的有效方法，但不同的数据处理将直接影响Riotveld方法所给出的结果．该文研究了数据处理中高角数据截取对Rietveld方法结果的影响不同的结构参数对高角数据截取有不同的灵敏度，一般的结构参数在常规衍射角范围就能取得较好的结果，但对轻原子体系和晶胞参数的准确确定，需要在计算中引入一定的高角衍射数据．在参数修正时，可信度因子的值随高角数据的增多而缓慢变化，且对背景参数的改变较为敏感。以至其值的大小不能准确反映晶体结构和微结构模型的有效性．
- 刘红超郭常霖
- 关键词：RIETVELD方法晶体结构
- 普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善被引量：1
- 1994年
- 作者为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW 1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm)。实验结果表明:加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10％,谱仪非对称因子由1.4～1.5改善为1.0～1.18。为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。
- 吉昂刘红超石琼陶光仪
- 关键词：X射线荧光光谱仪分辨率
- 掺Li的SrB_4O_7的晶体结构和微结构的X射线粉末衍射研究被引量：2
- 1997年
- 掺Li对SrB4O7的性能有一定的影响.本工作用X射线粉末衍射结构分析方法研究了掺Li的SrB4O7的晶体结构和微结构.空间群为Pmn21，晶胞参数为a=10.741（5）Ab=4.245（1）A，c＝4.437（1）A;掺杂的SrB4O7晶胞参数较纯SrB4O7的略有增大;阐述了产生这种变化的原因.在该晶体结构中，Li进入SrB4O7晶格空隙，成为间隙离子;这种结构有利于提高晶体的非线性光学系数.文中还比较了文献中SrB4O7的晶体结构数据，分析了其中存在的问题.
- 刘红超郭常霖范世■徐一斌
- 关键词：晶体结构微结构X射线衍射非线性光学效应
