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吕涛

作品数:53 被引量:71H指数:5
供职机构:中国科学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信理学石油与天然气工程更多>>

文献类型

  • 25篇期刊文章
  • 14篇会议论文
  • 7篇专利
  • 5篇科技成果
  • 2篇学位论文

领域

  • 25篇自动化与计算...
  • 14篇电子电信
  • 4篇理学
  • 3篇石油与天然气...
  • 1篇机械工程

主题

  • 15篇电路
  • 13篇集成电路
  • 9篇芯片
  • 6篇可观测性
  • 5篇数值解
  • 5篇处理器
  • 4篇代码
  • 4篇调度
  • 4篇设计技术
  • 4篇偏微分
  • 4篇偏微分方程
  • 4篇区域分解算法
  • 4篇微分
  • 4篇微分方程
  • 4篇可测试性
  • 4篇可测试性设计
  • 4篇RTL
  • 4篇测试性
  • 4篇测试性设计
  • 3篇数字集成电路

机构

  • 53篇中国科学院
  • 6篇中国科学院研...
  • 6篇中国科学院大...
  • 2篇河北工程大学
  • 2篇西安石油大学
  • 1篇丹麦技术大学
  • 1篇湖南大学
  • 1篇北京控制工程...
  • 1篇湘潭大学
  • 1篇招商局海洋装...

作者

  • 53篇吕涛
  • 30篇李晓维
  • 20篇李华伟
  • 6篇樊建平
  • 5篇韩银和
  • 4篇尹志刚
  • 4篇徐勇军
  • 4篇鲁巍
  • 4篇杨修涛
  • 4篇胡瑜
  • 3篇张金巍
  • 3篇赵阳
  • 3篇何蓉晖
  • 3篇刘领一
  • 3篇王天成
  • 3篇段永颢
  • 3篇许彤
  • 3篇马丽丽
  • 3篇张弢
  • 2篇周艳红

传媒

  • 5篇计算机辅助设...
  • 4篇数学的实践与...
  • 2篇天然气工业
  • 2篇计算机研究与...
  • 2篇计算机学报
  • 2篇计算机工程
  • 1篇同济大学学报...
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇计算机应用研...
  • 1篇科技开发动态
  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇系统仿真学报
  • 1篇中国光学(中...
  • 1篇低碳化学与化...
  • 1篇第二届中国测...
  • 1篇第十届全国容...
  • 1篇第十三届全国...
  • 1篇企业信息化高...
  • 1篇全国第13届...
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2020
  • 1篇2016
  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 6篇2011
  • 4篇2010
  • 5篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2007
  • 2篇2006
  • 2篇2005
  • 6篇2004
  • 5篇2003
  • 5篇2002
  • 1篇1993
  • 4篇1992
53 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用被引量:9
2002年
可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。
李华伟李晓维尹志刚吕涛何蓉晖
关键词:可测试性设计CPU芯片
基于VPM和随机激励的处理器核仿真建模
2010年
为提高处理器核仿真模型的效率,提出基于SimpleScalar架构对龙芯1号处理器进行虚拟处理器模型行为建模,IPC平均误差为2.3%,速度达到每秒1 000 000条指令。基于可控随机事件机制实现的总线功能模型可以为片上系统(SoC)设计提供激励主动生成方案和片上互连验证功能。实验结果证明,该方法对处理器IP仿真建模具有普适意义,能够被无缝融入SoC流程中。
许彤张仕健吕涛
关键词:总线功能模型
区域分解算法——偏微数值解新技术(Ⅱ)被引量:5
1992年
3.1经典Sohwar二交替方法 重迭型区域分解算法是以Schwarz交替法为理论依据.1869年德国数学家H.A.Schwarz首次用交替方法论证两个相互重迭区域和集上的Laplaoe方程Diriohlet问题解的存在性。
吕涛
关键词:区域分解算法偏微分方程数值解
基于对平衡的SOC测试调度算法
随着越来越多的芯片设计采用已经过验证的IP(Intellectual Property,IP)芯核组建系统芯片,芯片的测试的复杂度大大提高,导致需要更长的时间完成系统芯片的测试。不同于以往基于单个芯核扫描链平衡的调度技术...
胡瑜韩银和李华伟吕涛李晓维
关键词:测试调度系统芯片粒子群优化算法
文献传递
数字集成电路设计错误的静态检测系统
随着芯片集成度的不断提高,功能验证已成为IC设计流程中时间耗费最大的环节,因此尽早且快速地发现集成电路设计中的错误,对于缩短验证周期具有重要意义。本文从模拟验证方法发现的功能错误中提取错误特征,引入软件测试领域中的静态检...
杨志吕涛李华伟李晓维
关键词:集成电路芯片设计电路测试
基于模拟的验证技术在一款通用CPU设计中的应用
设计验证是芯片设计过程中保证其可靠性的一个重要环节.其中基于模拟的验证是实际中最主要的方法.虽然同样是把激励加载在功能规范和设计上,通过模拟来比较二者的响应,但是根据激励产生的方法或指导思想不同,又有各种不同的基于模拟的...
吕涛李华伟尹志刚刘国华李晓维樊建平
文献传递
用于RTL设计验证的静态错误检测方法
2011年
为快速有效地对集成电路设计中潜在的常见错误进行检测,提出一种基于静态分析的错误检测方法。该方法可以自动地提取待测寄存器传输级(RTL)设计的行为信息,检测出设计中常见的错误,如状态机死锁、管脚配置错误。实验结果表明,静态检测相对于其他验证方法自动化程度高、检测速度快、检测准确度高、检测代码可重用,可以在模拟之前发现设计中的错误。
马丽丽吕涛李华伟张金巍段永颢
关键词:寄存器传输级
偏微分方程数值解的并行算法
吕涛
关键词:偏微分方程数值解并行处理迭代法有限元法
内置自测试自动综合技术的研究
李晓维何蓉晖吕涛李华伟骆祖莹宫云战张英相藤原秀雄赵海燕李发春王宏伟
“内置自测试自动综合技术的研究”是国家自然科学基金资助课题(编号:69976002)。  该项目主要研究VLSI的内置自测试(BIST)设计方法,主要成果分四个方面:(1)在VLSI自测试设计的研究方面,提出了并行反馈B...
关键词:
关键词:数字电路
基于CLP模型的HDL设计可观测性分析
2009年
为了提高模拟验证中的可观测性覆盖率,建立了一个逻辑约束编程(CLP)模型,定义了变量之间单步传播的条件.在此基础上,借助通用CLP系统自动地完成路径搜索、冲突发现、回溯和约束求解.实验结果表明,基于CLP的可观测性分析技术一方面可以生成更有效的测试向量,使得特定语句上的错误能够被传播到输出,加快模拟验证发现bug的过程;另一方面可以识别出不可观测的语句,避免盲目追求高覆盖率,节约模拟验证的资源.
赵阳吕涛李华伟李晓维
关键词:可观测性
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