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左仁福

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:北京大学信息工程学院更多>>
发文基金:广东省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇阵列
  • 1篇数据压缩
  • 1篇现场可编程
  • 1篇现场可编程门...
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片测试
  • 1篇逻辑功能
  • 1篇门阵列
  • 1篇解码
  • 1篇解码器
  • 1篇可编程门阵列
  • 1篇集成电路
  • 1篇FPGA
  • 1篇测试数据
  • 1篇测试数据压缩
  • 1篇测试资源

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇左仁福
  • 1篇崔小乐
  • 1篇张兴
  • 1篇李国亮

传媒

  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
FPGA制造测试方法研究和方案开发
在集成电路芯片被生产出来后,为了保证产品实际特性与设计预期相符合,都要进行测试。FPGA芯片也不例外。由于FPGA芯片逻辑功能的灵活多变,即可配置性,特定的设计电路映射到FPGA中时,可以只使用部分资源或部分资源的部分功...
左仁福
关键词:集成电路芯片测试逻辑功能现场可编程门阵列
基于VSPTIDR编码压缩的测试资源划分方法
2008年
提出了一种有效的新型测试数据压缩编码——VSPTIDR编码,该编码方法只需对编码字进行移位操作即可得到相应的游程长度,在测试集中0的概率p满足p≥0.92时,能取得比FDR编码更高的压缩率。该编码方法的解码器也较FDR编码的解码器简单、易实现且能有效节省硬件开销。这一系列改进降低了芯片的测试和制造成本,从而也就降低了芯片的整体成本。
左仁福崔小乐李国亮张兴
关键词:测试数据压缩解码器
共1页<1>
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