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蒋晓波

作品数：18 被引量：0H指数：0
供职机构：北京大学更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 18篇中文专利

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 10篇半导体
  • 10篇半导体器件
  • 8篇涨落
  • 6篇电压
  • 6篇阈值电压
  • 6篇工作电压
  • 5篇漏电
  • 5篇漏电流
  • 4篇电路
  • 4篇电路仿真
  • 4篇电路仿真软件
  • 4篇电路性能
  • 4篇电子器件
  • 4篇网表
  • 4篇微电子
  • 4篇微电子器件
  • 4篇蒙特卡洛仿真
  • 4篇晶体管
  • 4篇仿真
  • 4篇仿真软件

机构

  • 18篇北京大学

作者

  • 18篇王润声
  • 18篇黄如
  • 18篇蒋晓波
  • 6篇郝鹏
  • 2篇郭少锋
  • 2篇张兴
  • 2篇郭少峰

年份

  • 1篇2019
  • 3篇2018
  • 2篇2017
  • 7篇2016
  • 4篇2014
  • 1篇2013
共 18 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种提取半导体器件栅介质层陷阱时间常数的方法
本发明公开一种提取半导体器件栅介质层陷阱时间常数的方法，属于微电子器件可靠性领域。该方法首先初始化半导体器件中陷阱状态，使得陷阱最终状态为空状态；然后栅端施加DC信号或AC信号，漏端为零偏压Vd1，在经过一段时间t1后，...
黄如郭少锋王润声任鹏鹏蒋晓波罗牧龙张兴
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预测半导体器件寿命终点时NBTI动态涨落的方法
一种预测半导体器件寿命终点时NBTI动态涨落的方法，包括：通过对半导体器件进行测试，获取半导体器件在寿命终点时的失效几率；通过对多个半导体器件进行测试，获取某工作电压V<Sub>G</Sub>对应的特征失效几率；求出不同...
黄如任鹏鹏王润声蒋晓波郝鹏罗牧龙
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一种不同涨落源对器件电学特性影响幅度的提取方法
本发明公开了一种不同涨落源对器件电学特性影响幅度的提取方法，属于微电子器件领域。该提取方法利用每个器件的转移曲线I<Sub>d</Sub>‑V<Sub>g</Sub>，从曲线上提取得到各个器件的阈值电压V<Sub>th<...
王润声蒋晓波黄如
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一种评估半导体器件10年寿命对应的工作电压的方法
一种评估半导体器件寿命的工作电压的方法，包括：求出某半导体器件在某工作电压V<Sub>G</Sub>下的失效几率；求出该半导体器件失效几率随V<Sub>G</Sub>的变化关系；根据同类的多个半导体器件失效几率随V<Su...
黄如任鹏鹏王润声罗牧龙蒋晓波
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鳍型场效应晶体管中栅边缘粗糙度效应的电路仿真方法
本发明公开了一种鳍型场效应晶体管中栅边缘粗糙度的电路仿真方法，属于微电子器件领域。该电路仿真方法基于可预测性集约模型，首先从鳍线条的电镜照片中提取出粗糙的栅边缘，计算它的自相关函数，然后利用计算公式得到鳍边缘粗糙度影响下...
黄如蒋晓波王润声
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鳍型场效应晶体管中鳍边缘粗糙度效应的电路仿真方法
本发明公开了一种鳍型场效应晶体管中鳍边缘粗糙度的电路仿真方法，属于微电子器件领域。该电路仿真方法基于可预测性集约模型，首先从鳍线条的电镜照片中提取出粗糙的鳍边缘，计算它的自相关函数，然后利用计算公式得到鳍边缘粗糙度影响下...
黄如蒋晓波王润声
鳍型场效应晶体管中栅边缘粗糙度效应的电路仿真方法
本发明公开了一种鳍型场效应晶体管中栅边缘粗糙度的电路仿真方法，属于微电子器件领域。该电路仿真方法基于可预测性集约模型，首先从鳍线条的电镜照片中提取出粗糙的栅边缘，计算它的自相关函数，然后利用计算公式得到鳍边缘粗糙度影响下...
黄如蒋晓波王润声
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一种提取带陷阱耦合效应的随机电报噪声信号的方法
本发明公布了一种提取带陷阱耦合效应的随机电报噪声信号的方法，基于隐马尔可夫模型，从实测的带有噪声的漏电流信号中，提取得到干净且带有耦合信息的随机电报噪声；包括：根据得到的漏电流信号，设定器件中的陷阱个数N<Sub>tra...
王润声蒋晓波黄如
一种预测半导体器件NBTI寿命及其涨落的方法
一种预测半导体器件NBTI寿命及其涨落的方法，仅用一个半导体器件即可预测出其最好寿命、最坏寿命和平均寿命。测试时间大大缩短，可以实现快速测量；另外，由于仅用一个半导体器件，避免了传统方法中DDV的影响，同时可以研究寿命在...
黄如任鹏鹏王润声郝鹏蒋晓波
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一种预测半导体器件寿命的工作电压的方法
一种预测半导体器件寿命的工作电压的方法：在半导体器件栅端施加应力电压以K倍增加，在应力施加过程中，栅电压在V<Sub>Gstress_2</Sub>和V<Sub>Gmeasure</Sub>之间循环跳转，漏电压在0和V<...
黄如任鹏鹏王润声郝鹏蒋晓波郭少峰
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