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顾珊珊

作品数:2 被引量:10H指数:1
供职机构:浙江工业大学化学工程与材料学院更多>>
发文基金:浙江省“钱江人才计划”国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇电学性能
  • 2篇硼掺杂
  • 2篇微结构
  • 2篇纳米金刚石薄...
  • 2篇金刚石薄膜
  • 2篇掺杂
  • 1篇电学
  • 1篇退火
  • 1篇退火温度
  • 1篇离子注入
  • 1篇薄膜微结构

机构

  • 2篇浙江工业大学

作者

  • 2篇顾珊珊
  • 1篇黄凯
  • 1篇胡晓君

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 2篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
硼掺杂纳米金刚石薄膜的微结构与电学性能研究
采用热丝化学气相沉积(HFCVD)法与离子注入法制备硼掺杂纳米金刚石(BDND)薄膜,并对薄膜进行真空退火处理,系统研究退火温度、掺杂浓度、掺杂方法对BDND薄膜微结构和电学性能的影响,对于制备高电导率高Hall迁移率的...
顾珊珊
关键词:纳米金刚石薄膜硼掺杂离子注入微结构电学性能
文献传递
退火温度对硼掺杂纳米金刚石薄膜微结构和p型导电性能的影响被引量:10
2013年
采用热丝化学气相沉积法制备硼掺杂纳米金刚石(BDND)薄膜,并对薄膜进行真空退火处理,系统研究退火温度对BDND薄膜微结构和电学性能的影响.Hall效应测试结果表明掺B浓度为5000ppm(NHB)的样品的电阻率较掺B浓度为500ppm(NLB)的样品低,载流子浓度高,Hall迁移率下降.1000℃退火后,NLB和NHB样品的迁移率分别为53.3和39.3cm2·V-1·s-1,薄膜的迁移率较未退火样品提高,电阻率降低.高分辨透射电镜、紫外和可见光拉曼光谱测试结果表明,NLB样品的金刚石相含量较NHB样品高,高的硼掺杂浓度使薄膜中的金刚石晶粒产生较大的晶格畸变.经1000C退火后,NLB和NHB薄膜中纳米金刚石相含量较未退火时增大,说明薄膜中部分非晶碳转变为金刚石相,为晶界上B扩散到纳米金刚石晶粒中提供了机会,使得纳米金刚石晶粒中B浓度提高,增强纳米金刚石晶粒的导电能力,提高薄膜电学性能.1000℃退火能够恢复纳米金刚石晶粒的晶格完整性,减小由掺杂引起的内应力,从而提高薄膜的电学性能.可见光Raman光谱测试结果表明,1000℃退火后,Raman谱图中反式聚乙炔(TPA)的1140cm-1峰消失,此时薄膜电学性能较好,说明TPA减少有利于提高薄膜的电学性能.退火后金刚石相含量的增大、金刚石晶粒的完整性提高及TPA含量的大量减少有利于提高薄膜的电学性能.
顾珊珊胡晓君黄凯
关键词:退火微结构电学性能
共1页<1>
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