吴珍妮
- 作品数：8 被引量：5H指数：2
- 供职机构：合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案被引量：2
- 2010年
- 工艺尺寸进入纳米级后,数字电路的可靠性面临高能粒子效应、延时故障、器件老化等方面的威胁.提高可靠性同时也面临着面积、延时、功耗等方面的挑战.针对高能粒子瞬时效应中影响组合逻辑电路的单事件瞬态(SET),提出一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案.ISCAS-89标准电路在45nm Nangate工艺下的实验证明,该方案平均增加11.14%～44.74%的面积开销,可达到50%～99%的可靠性.
- 王俊梁华国黄正峰吴珍妮秦晨飞
- 关键词：组合逻辑可靠性
- 容软错误的电路选择性加固技术
- 针对纳米级工艺下瞬态故障引发的软错误可能造成电路失效这一问题,提出一种容软错误的电路加固方案.该方案面向软错误的两种诱因SEU与SET,构造容错时序单元RHBD-DFF,并在对电路中原始时序单元进行加固的同时,考虑到所带...
- 吴珍妮梁华国黄正峰王俊陈秀美曹源
- 关键词：软错误触发器
- 文献传递
- 一种交替互补的双状态机自恢复方案被引量：1
- 2012年
- 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出了一种交替互补的双状态机自恢复结构,该结构将原始状态机拆分为两个子状态机,两个子状态机交替工作,互为补充.在其中一个子状态机发生错误时,回卷到另一个子状态机中的正确状态重新执行,从而有效地针对软错误引起的状态翻转进行防护.为验证本方案,对MCNC91标准电路进行了实验.实验结果显示,在面积开销略为增加的情况下,该方案防护了电路中99.64%的软错误,而电路的延迟比其他同类自恢复方案大幅度降低,在性能改进方面有一定优势.
- 陈秀美梁华国黄正峰吴珍妮曹源
- 关键词：软错误自恢复
- 流水线电路的容错设计
- 2010年
- 随着集成电路特征尺寸进入纳米级,高能粒子造成的软错误已对电路的正常工作构成严重威胁。流水线电路具有工作频率高、时序单元数量多的特点,易受软错误影响。本文对时序单元进行容错性能分析,并结合流水线电路的特点,利用新型容错时序单元结构,提出了一种容软错误的流水线电路设计方案。
- 吴珍妮梁华国黄正峰陈秀美曹源
- 关键词：软错误锁存器触发器
- 基于Markov链的FSM容软错误设计被引量：2
- 2011年
- 随着深亚微米工艺的广泛应用,持续攀升的软错误率对宇航设备的电路可靠性造成了极大影响。针对现有冗余防护技术面积开销大的不足,将概率统计的思想运用到有限状态机(FSM)的软容错设计上,提出了选择部分状态冗余的容错方法。在Markov链模型的基础上,计算出各状态概率,从而为状态冗余提供依据。与未经选择状态冗余的电路相比,以平均增加14.9%的面积开销为代价,这种电路可屏蔽87.6%的时序逻辑单翻转(SEU)。
- 曹源梁华国黄正峰陈秀美吴珍妮
- 关键词：MARKOV链模型软错误
- 数字电路容错设计与研究
- 容错设计技术是提高计算系统可信性的重要措施。高能粒子辐射引起的软错误曾被认为是影响宇航电子用品可靠性的首要因素。随着集成电路特征尺寸的急剧减小进入纳米级，关键电荷也相应减小，伴之工作电压持续降低，工作频率急剧升高，即使在...
- 吴珍妮
- 关键词：软错误数字电路容错设计
- 文献传递
- 一种针对软错误的流水线电路加固方案
- 针对纳米级工艺下瞬态故障引发的软错误可能造成电路失效这一问题,提出一种容软错误的流水线电路加固方案.该方案面向软错误的主要诱因--单事件翻转(single event upset,SEU),利用新型的容错结构锁存器(ra...
- 吴珍妮梁华国黄正峰陈秀美曹源
- 关键词：软错误锁存器触发器
- 文献传递
- 一种针对软错误的流水线电路加固方案
- 2010年
- 针对纳米级工艺下瞬态故障引发的软错误可能造成电路失效这一问题,提出一种容软错误的流水线电路加固方案.该方案面向软错误的主要诱因——单事件翻转(single event upset,SEU),利用新型的容错结构锁存器(radiation hardened by design latch,RHBDL),构造高可靠性的触发器RHBD-DFF,对电路中原始时序单元进行加固,同时对流水线电路进行了软错率理论分析.考虑到加固所带来的附加开销,采取选择性加固的策略,对电路中的关键时序单元进行加固.实验结果表明,基于开销限制前提的选择性加固,能够达到以低开销代价换取高容错性能的目的.
- 吴珍妮梁华国黄正峰陈秀美曹源
- 关键词：软错误锁存器触发器
