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李金铁

作品数:4 被引量:2H指数:1
供职机构:爱德万测试有限公司更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇代码
  • 1篇代码分析
  • 1篇信号测试
  • 1篇英文
  • 1篇应用程序
  • 1篇头脑
  • 1篇头脑风暴
  • 1篇接口
  • 1篇混合信号
  • 1篇混合信号测试
  • 1篇分析技术
  • 1篇高速接口
  • 1篇ATE
  • 1篇EDA
  • 1篇测试系统
  • 1篇LINKAG...

机构

  • 4篇爱德万测试有...
  • 1篇北京大学
  • 1篇上海交通大学
  • 1篇展讯通信(上...

作者

  • 4篇李金铁
  • 1篇冯建华
  • 1篇赵峰
  • 1篇周震一
  • 1篇刘旸

传媒

  • 1篇电子工业专用...
  • 1篇信息技术
  • 1篇中国集成电路
  • 1篇第五届中国测...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2005
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
头脑风暴-模拟和混合信号测试的机遇和挑战(英文)
<正>The AMS panel session invites a few experts from academy as well as the industry who are actively working i...
夏曙曾来春蒋蓁李金铁郑朝晖朱小荣冯建华
文献传递
高速接口芯片测试解决方案
2005年
近年来,伴随着一系列的高速数据传输标准在实际产品中的应用,对于这类芯片的评价测试难度也变得越来越大。爱德万测试根据这类要求,开发了5Gbps信号的高速测试选件。
李金铁
关键词:高速接口测试系统
用代码分析技术对ATE应用程序的自动分析
2009年
在不少过程化的IC ATE测试应用程序中,测试的数据条件往往与测试算法紧密耦合,使得程序平台转换的工作严重依赖人工的阅读理解。文中提出了一种新途径,将软件反向工程领域中基于概念的源代码分析技术引入到测试程序的转换工作中,对于某种过程化C语言测试程序,在一定程度上实现测试条件等信息的自动提取。
周震一赵峰李金铁
关键词:ATE代码分析
面向芯片设计的测试新理念被引量:2
2007年
SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案,分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。
李金铁刘旸
共1页<1>
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