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徐科

作品数:17 被引量:85H指数:5
供职机构:中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学化学工程一般工业技术更多>>

文献类型

  • 15篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 11篇电子电信
  • 8篇理学
  • 2篇化学工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 8篇晶体
  • 6篇GAN
  • 6篇衬底
  • 5篇晶体生长
  • 4篇氮化镓
  • 4篇衬底材料
  • 3篇氮化
  • 3篇位错
  • 2篇形貌分析
  • 2篇引上法
  • 2篇温度梯度法
  • 2篇温梯法
  • 2篇晶格匹配
  • 2篇
  • 2篇
  • 2篇MOCVD
  • 1篇单晶
  • 1篇氮化物
  • 1篇电特性
  • 1篇形貌

机构

  • 17篇中国科学院上...
  • 6篇中国科学院
  • 2篇加州理工学院
  • 1篇南京大学

作者

  • 17篇徐科
  • 12篇徐军
  • 10篇邓佩珍
  • 8篇周国清
  • 6篇周永宗
  • 4篇田玉莲
  • 4篇干福熹
  • 2篇邱荣生
  • 2篇方祖捷
  • 2篇蒋建华
  • 2篇董俊
  • 2篇朱人元
  • 1篇潘守夔
  • 1篇蒋树声
  • 1篇徐建卫
  • 1篇陈杏达
  • 1篇蒋建华
  • 1篇王洲光
  • 1篇郑文莉
  • 1篇陈伟

传媒

  • 4篇人工晶体学报
  • 4篇北京同步辐射...
  • 2篇硅酸盐学报
  • 2篇中国激光
  • 2篇光学学报
  • 1篇材料研究学报

年份

  • 1篇2001
  • 2篇2000
  • 3篇1999
  • 10篇1998
  • 1篇1997
17 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
GaN/Al2O3(0001)的匹配机制及氮化的作用
1998年
在Al2O3(0001)衬底上用MOCDVD方法进行了GaN的外延生长,通过X射线衍射(同步辐射源)研究了GaN和Al2O3(0001)的匹配关系。结果表明,经充分氮化的衬底上,GaN以单一的匹配方式沿[0001]方向生长:在Al2O3(0001)衬底未经氮化或氮化不充分时,不同程度地出现了其它三种绕<11-20>晶带轴倾斜一定角度的匹配位向。指出了GaN/Al2O3(0001)的几种匹配方式的晶体学规律。GaN绕<11-20>晶带轴倾斜的匹配方式是其外延生长过程中降低和Al2O3(0001)的晶格失配、释放界面应变的重要机制之一。
徐科郑文莉
关键词:氮化GANMOCVD晶格匹配外延膜氮化镓
新型紫外双折射晶体高温相偏硼酸钡 (α-BaB_2O_4)的人工合成被引量:4
2000年
简要报道了新型双折射晶体高温相偏硼酸钡α-BaB2O4晶体在国内外属首次的人工合成,与天然方解石、钒酸钇作了比较,测试了532nm的折射率α-BaB2O4晶体是一种理想的紫外双折射晶体。
周国清徐军陈杏达陈伟李红军徐科干福熹
关键词:提拉法双折射晶体
LiAlO2晶体位错特征的X射线形貌分析
1998年
徐科田玉莲
LiGaO2晶体的压电特性和缺陷的X射线貌相研究
1998年
徐科田玉莲
关键词:压电特性位错
两种新型衬底材料LiAlO_2和LiGaO_2晶体的腐蚀形貌和缺陷研究被引量:12
1998年
LiAlO2和LiGaO2是目前找到的和GaN晶格失配率最小的两种晶体,其失配率分别为1.4%和0.2%.本研究分别利用温梯法和提拉法成功地生长出了LiAlO2和LiGaO2单晶.通过化学侵蚀、光学显微镜、透射电子显微镜和X射线衍射貌相术对两种晶体中的缺陷特征进行了分析,研究了晶体特性、生长方法和缺陷形成的关系.用温梯法生长的LiAlO2晶体质量良好,晶体中无气泡、包裹物.LiAlO2晶体中的位错密度约为3.8×104—6.0×104/cm2,晶体中的主要缺陷为亚晶界或镶嵌,可能是由于温度场不稳定及生长速率太快造成的.而用普通的提拉法生长的LiGaO2晶体由于原料按非化学计量比挥发,致使组分偏离,容易产生γ-Ga2O3包裹物,包裹物和位错的形成具有一定的相互促进作用,往往形成平行于(001)面的亚晶界,通过调整原料配比及生长工艺参数可克服上述问题.测得LiGaO2晶体的位错密度为7.0×105—9.2×105/cm2.
徐科邓佩珍徐军周永宗周永宗蒋树声刘文军
关键词:衬底材料晶体
GaN外延衬底LiGaO_2晶体的生长和缺陷被引量:4
1998年
LiGaO2与GaN的晶格失配率只有0.2%,是一种很有潜力的蓝光衬底材料。通过多次实验,用提拉法生长了尺寸为15×60mm的高质量LiGaO2单晶。利用化学侵蚀、光学显微镜、透射电子显微镜对晶体中的缺陷进行了分析,研究了生长参数、原料化学配比对晶体质量的影响。LiGaO2晶体在〈100〉方向生长速率最快,在〈001〉方向上生长较慢。由于原料按非化学计量比挥发致使组份偏离,容易产生γ-Ga2O3包裹物。包裹物和位错的形成具有一定的相互促进作用,往往形成平行于(001)面的亚晶界。通过调整原料配比、生长工艺参数可克服上述问题。
徐科徐军周国清董俊邓佩珍
关键词:晶体生长GAN
温梯法Al_2O_3晶体位错形貌分析被引量:2
1999年
用温度梯度法( Temperature Gradient Technique ,简称温梯法或 T G T 法) ,定向籽晶[0001] 方向,生长出110mm ×80m m Al2 O3 单晶,晶体完整、透明。采用硼酸钠玻璃液作为 Al2 O3 晶体的化学抛光和化学腐蚀剂,观察了晶体不同部位处(0001) 、(1120) 晶片的化学腐蚀形貌相,(0001) 切片的位错腐蚀坑呈三角形,位错密度为2 ×103 ~3 ×103/cm2 ;(1120) 切片位错腐蚀坑呈菱形,位错密度为7×103 ~8 ×103/cm2 ;而且等径生长部位的完整性比放肩处高。利用同步辐射 X 射线白光衍射实验分析了(0001) 晶片的(2021) ,(1101) 和(0221) 衍射面内的位错组态。确定了两组位错线的 Burgers矢量,温梯法生长的 Al2 O3 晶体中的位错主要是刃型位错。
周国清徐军邓佩珍徐科周永宗干福熹朱人元田玉莲蒋建华王洲光
关键词:位错温梯法形貌
温梯法生长φ110mm×80mm蓝宝石晶体位错的化学腐蚀形貌分析被引量:20
1999年
利用导向籽晶温度梯度法(TGT) 生长了110 m m ×80 m m 的蓝宝石单晶,应用化学腐蚀、光学方法分析了该晶体不同部位、不同切片的位错腐蚀形貌、位错密度及其分布情况,发现在晶体放肩处的(1120) 面位错密度约为104 cm - 2 量级,等径生长过程中靠近晶体中心处(0001) 面位错密度为(3 ~4) ×103cm -2 ,靠近坩埚壁处(0001) 面晶体位错密度为(5 ~6) ×103cm -2 . 用同样方法分析了提拉法(Cz) 生长的50 mm ×80 m m 蓝宝石晶体的位错. 相比而言,TGT法生长的Al2O3 位错密度比Cz 法的Al2O3 晶体低得多,约低一个数量级,TGT 法可以生长大尺寸、高完整性的Al2O3 晶体,这与TGT 法的特殊生长工艺有密切关系.
周国清徐科邓佩珍徐军周永宗干福熹朱人元
关键词:温度梯度法位错腐蚀坑晶体生长晶体
新型蓝光衬底材料LiAlO_2晶体的生长和缺陷分析被引量:8
1998年
LiAlO2和GaN的晶格失配率只有1.4%,是一种很有希望的GaN外延生长衬底材料。本文利用温度梯度法生长出了透明的LiAlO2单晶,并通过化学浸蚀、光学显微镜、透射电子显微镜、同步辐射X射线貌相术对晶体中的缺陷进行了检测。结果表明:LiAlO2在钼坩埚中无籽晶自由凝固结晶时,是沿(100)方向生长。用温度梯度法生长的LiAlO2晶体质量良好,晶体中无气泡和包裹物。在LiAlO2(100)晶面上测得的位错密度为(3.8~6.0)×104cm-2,晶体中的主要缺陷为亚晶界或镶嵌结构,可能是由于温场不稳定、生长速率太快造成的。
徐科邓佩珍周永宗周国清徐军
关键词:晶体生长
衬底材料LiGaO_2与LiAlO_2晶体的生长及缺陷分析被引量:1
1997年
衬底材料LiGaO2与LiAlO2晶体的生长及缺陷分析徐科徐军周永宗邓佩珍(中国科学院上海光学精密机械研究所,上海201800)CrystalGrowthandDefectsofSubstrateMaterialsLiGaO2andLiAlO2XuK...
徐科徐军周永宗邓佩珍
关键词:衬底材料引上法晶体生长
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