张保军
- 作品数：2 被引量：3H指数：1
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- ICP-AES中基体元素对硫的光谱干扰(Ⅱ)被引量：1
- 1996年
- 本文使用德国 Spectro 分析仪器公司 ICP-P 型光谱仪,探讨了基体元素在182.036nm 处对硫产生的光谱干扰。结果发现 Mn、Cu、Cr 等元素的谱线与硫的谱线重叠,而Mn 最严重。Fe、Cd、Zn、Yb、Er 等元素也能在182.036±0.035nm 处对硫产生不同程度的干扰,这些干扰线在 R.K.Winge,V.A.Fassel;Boumans;Corlis;Bozman;R.L.Kelly 等人的光谱表中均无记载,同时也没有见到任何报道。在本文探讨中,硫的标准溶液为10ppm,检出限为20ppb。空白溶液为二次水,其强度为245各单元素的标准溶液都是用光谱纯或4N 以上高纯试剂配制而成。我们历时四个小时测定了波长的准确度和重现性,硫在182.036±0.001nm 处的强度差为1.5%,谱线波长的准确度为±0.001nm。在此基础上我们进行了基体元素对硫的干扰测定,并绘出了干扰轮廓图(略)和基体元素的波长及其强度(表二)。结果表明:1.Mn、Cu、Cr 在182.036nm 处与硫产生谱线重叠干扰,其中 Mn 线最严重,Fe、Cd、Zn、Yb、Er等元素也能在182.036±0.035nm 处对硫产生不同程度的干扰。2.当样品中有 Mn 元素时,建议选用180.734nm 这根谱线对硫进行定量分析。3.本文中的表二可作为分析硫时选择分析线的依据。在 ICP-AES 中,由于在200nm 以下的分析受到一些条件的限制,所以对这方面的工作报道极少。本文将一些具有不同的电离能,不同的原子半径和不同的电子排布的基体元素(Mn、Sm、Er、Yb、La、Y、Ba、Se、Cr、Zn、Fe、Cu、Cd、K、Na、P)在波长182.036±0.035nm 范围内进行对硫的光谱干扰方面的研究(表一),结果发现了一些光谱表上没有记载和报道的光谱干扰线,其中Mn 的光谱干扰最为显著。表一基体元素及其性质基体元素电离能ev 原子半径(?) 基态电子排布Mn 7.435 1.24 3d^54s^2Yb 6.254 1.940 4f^(14)6s^2Er 6.10 1.757 4f^(12)6s^2Fe 7.87 1.26 3d^(10)4s^2Sm 5.63 1.802 4f^66s^2Cd 8.993 1.489 4d^(10)5s^2Zn 9.394 1.37 3d^(10)4s^2Cu 7.724 1.
- 卢汉兵张保军
- 关键词：ICP-AES硫光谱干扰
- ICP－AES中基体元素对硫的光谱干扰（Ⅱ）被引量：3
- 1994年
- ＩＣＰ－ＡＥＳ中基体元素对硫的光谱干扰（Ⅱ）卢汉兵张保军，魏路线（武汉华中师范大学分析测试中心，武汉，４３００７０）（武汉工学院微观分析中心）关键词电感耦合等离子体发射光谱，光谱干扰，硫ＩＣＰ－ＡＥＳ中，由于对２００ｎｍ以下的光谱干扰研究工作报道极少...
- 卢汉兵张保军魏路线
- 关键词：硫ICP-AES光谱干扰
