您的位置： 专家智库 > >

李力军

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
相关领域：电气工程电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇专利
  • 2篇科技成果

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇代码
  • 2篇自动测试设备
  • 2篇微处理器
  • 2篇参数测试
  • 2篇测试代码
  • 2篇测试设备
  • 2篇测试矢量
  • 2篇处理器
  • 1篇地址发生器
  • 1篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇电源
  • 1篇电源管理
  • 1篇电源管理芯片
  • 1篇多路
  • 1篇矢量
  • 1篇数据并行
  • 1篇总线
  • 1篇总线控制
  • 1篇总线控制器

机构

  • 5篇北京自动测试...

作者

  • 5篇李力军
  • 3篇张东
  • 2篇高剑
  • 2篇刘春来
  • 2篇李杰
  • 2篇于明
  • 2篇李强
  • 1篇姜岩峰
  • 1篇王皓民
  • 1篇张生文
  • 1篇郭全顺

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2009
  • 1篇2006
共 5 条 记 录，以下是 1-5
全选 清除 导出
排序方式：
基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法
本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码...
蒋常斌刘春来黎云浩李力军高剑李杰于明
文献传递
基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法
本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码...
蒋常斌刘春来黎云浩李力军高剑李杰于明
文献传递
用于集成电路测试的多路模/数数据并行采集装置
本实用新型公开了一种用于集成电路测试的多路模/数数据并行采集装置，包括系统总线控制器、定时器、地址发生器、多个RAM和多个A/D转换器。其中，系统总线控制器分别连接定时器、地址发生器，地址发生器分别连接各个RAM的地址端...
李力军张东管泽武
文献传递
电源管理芯片测试系统
张东姜岩峰李力军王传延哈文慧李强
该成果属于电子信息技术领域。成果主要功能为具有专门针对线性电源管理类芯片测试要求的模块；具有专门针对DC/DC（开关型）电源管理类芯片测试要求的模块；在进行晶圆测试时，该系统可提供32路烧铝电源等。主要技术指标为：输出电...
关键词：
关键词：电源管理芯片
半导体分立器件生产线测试系统
李力军张东管泽武蒋东艳张生文李强郭全顺王皓民胡雄超
半导体分立器件生产线测试系统的测试对象是在半导体分立器件生产线上测试各种半导体分立器件。系统可用于上述器件在生产线的生产过程中半导体圆片测试，成品测试，出厂检验；整机厂家的器件入厂检验和质量控制。尽快研制开发出高精度、高...
关键词：
关键词：半导体分立器件
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0