张梅
- 作品数:1 被引量:0H指数:0
- 供职机构:北京师范大学物理学系更多>>
- 发文基金:河南省科技攻关计划国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:理学更多>>
- 单轴压力下Ge_2X_2Te_5(X=Sb,Bi)薄膜拓扑相变的第一性原理研究
- 2015年
- 随着拓扑绝缘体的发现,材料拓扑物性的研究成为凝聚态物理研究的热点领域.本文基于第一性原理计算,研究了化合物Ge2X2Te5(X=Sb,Bi)的块体结构和二维单层和双层薄膜结构的拓扑物性,以及单双层薄膜在垂直方向单轴压力下的拓扑量子相变.研究发现,A型原子序列排列的这两种化合物都是拓扑绝缘体,其单层薄膜都是普通金属,而双层薄膜都是拓扑金属,单层和双层薄膜在单轴加压过程中都没有发生拓扑量子相变;这两种化合物的B型原子序列的晶体是普通绝缘体,其所对应的薄膜,Ge2Sb2Te5单层是普通金属,双层薄膜和Ge2Bi2Te5的单层和双层薄膜均为普通绝缘体,但是在单轴加压过程中B型原子序列所对应的单层和双层薄膜都转变为拓扑金属.
- 张梅文黎巍丁俊张英