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包诚

作品数:2 被引量:3H指数:1
供职机构:中国电子科技集团公司第三十八研究所更多>>
发文基金:国防基础科研计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇电子背散射衍...
  • 2篇载荷作用
  • 2篇再结晶
  • 2篇热疲劳
  • 2篇BGA
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性研究

机构

  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 2篇程明生
  • 2篇徐幸
  • 2篇包诚

传媒

  • 1篇电子测试
  • 1篇电子与封装

年份

  • 2篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
热疲劳载荷作用下不同成分BGA焊点可靠性被引量:2
2015年
针对微电子组装中常见的BGA封装形式,对比采用3种不同成分的BGA焊球和焊膏组合(锡铅共晶焊球和锡铅共晶焊膏Sn63Pb37、Sn3Ag0.5Cu焊球和锡铅共晶焊膏以及Sn3Ag0.5Cu焊球和Sn3Ag0.5Cu焊膏)焊接得到的BGA焊接界面。经过不同周期的热疲劳试验后,在金相显微镜和电子背散射衍射下观察,发现Sn3Ag0.5Cu焊球和锡铅共晶焊膏混装形成的BGA焊点中黑色的富锡相均匀弥散分布在焊球内,在热循环载荷作用下极难形成再结晶,抗热疲劳性能最好。
包诚徐幸程明生
关键词:BGA热疲劳再结晶电子背散射衍射
热疲劳载荷作用下不同成分BGA互连焊点可靠性研究被引量:1
2015年
本文针对微电子组装中常见的BGA封装形式,对比采用三种不同成分的BGA焊球和焊膏组合(锡铅共晶焊球和锡铅共晶焊膏、Sn3Ag0.5Cu焊球和锡铅共晶焊膏、以及Sn3Ag0.5Cu焊球和Sn3Ag0.5Cu焊膏)焊接得到的BGA互连点,经过不同周期的热疲劳试验后,在金相显微镜和电子背散射衍射下观察,发现Sn3Ag0.5Cu焊球和锡铅共晶焊膏混装形成的BGA焊点中黑色的富锡相均匀弥散分布在焊球内,在热循环载荷作用下极难形成再结晶,抗热疲劳性能最好。
包诚徐幸程明生
关键词:BGA热疲劳再结晶电子背散射衍射
共1页<1>
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