您的位置： 专家智库 > >

孙冰

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：天津市计量技术研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电阻
  • 1篇微处理器
  • 1篇微区薄层电阻
  • 1篇薄层电阻
  • 1篇IC
  • 1篇处理器
  • 1篇层电阻

机构

  • 1篇河北工业大学
  • 1篇天津市计量技...

作者

  • 1篇王鑫
  • 1篇孙以材
  • 1篇孙新宇
  • 1篇孙冰

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇1998
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
微处理器在微区薄层电阻测试Mapping技术中的应用被引量：3
1998年
利用微区薄层电阻测试的一种斜置四探针新方法，将扩散微区薄层电阻测试结果绘成全片的灰度图，这种Ｍａｐｐｉｎｇ技术十分有利于评价材料的质量。在测试过程中应用微处理器，可立即数字显示相应的测量电压及微区的薄层电阻，加快了计算速度并有利于控制探针的合适位置。
孙新宇王鑫孙以材孟庆浩孙冰李福林
关键词：微区薄层电阻微处理器IC
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0