徐凯源
- 作品数：27 被引量：4H指数：1
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学机械工程电子电信文化科学更多>>
- （D）KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法
- 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等...
- 郑垠波巴荣声丁磊周信达李杰徐宏磊李亚军那进张霖刘勇石振东马骅刘昂徐凯源万道明白金玺
- 文献传递
- 一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置
- 本发明公开了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置，所述方法包括对含噪波前位相W<Sub>o</Sub>进行预处理，得到扩展矩阵W；对扩展矩阵W进行二维离散小波分解，得到系数向量C<Sub>o</Sub>；基...
- 徐凯源柴立群刘昂何宇航陈宁李强高波魏小红万道明
- 文献传递
- 一种基于计算全息测量透镜焦距的方法
- 本发明公开了一种基于计算全息测量透镜焦距的方法，包括如下步骤：CGH的设计，根据透镜前后表面的曲率半径、中心厚、透镜的材质以及透镜与CGH的间距，得出CGH各环带半径参数，制作CGH；背景波前的获取，采用平面干涉仪，多次...
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- 文献传递
- 基于小波变换的平板波前死条纹噪声滤除方法被引量：4
- 2020年
- 高功率激光器的建造需要大量的高精度光学平板,其波前检测一般采用相移干涉技术。由于测试光在光学平板内的多次反射,存在由寄生干涉导致的死条纹现象。死条纹会在波前检测结果中引入周期性相位噪声,极大降低了波前检测结果的置信度。针对该问题,提出了一种基于小波变换的降噪方法,可根据死条纹噪声特征对波前检测结果进行降噪,不需要额外硬件或调整测试状态。实验结果表明,该方法可以有效滤除死条纹引入的相位噪声,且能很好地保留加工特征。
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- 关键词：小波变换
- 计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法
- 本发明公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法，属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路，干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时，一束由标准平面镜参考面反射...
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- 光学元件净化存储系统
- 本实用新型公开了一种光学元件净化存储系统，属于光学制造与检测技术领域中用于存放光学元件的存储系统，其目的在于提供一种用于存储大口径光学元件的具备净化功能的光学元件净化存储系统。其技术方案为：包括净化台和净化桌，净化台包括...
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- 文献传递
- 一种基于计算全息测量透镜焦距的方法
- 本发明公开了一种基于计算全息测量透镜焦距的方法，包括如下步骤：CGH的设计，根据透镜前后表面的曲率半径、中心厚、透镜的材质以及透镜与CGH的间距，得出CGH各环带半径参数，制作CGH；背景波前的获取，采用平面干涉仪，多次...
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- 文献传递
- 大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
- 本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法，属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量，其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
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- 基于计算全息术的长焦距透镜功率谱密度检测方法
- 2022年
- 高功率激光器的中频误差会导致自聚焦和功率损耗,但大口径长焦距非球面透镜中频波前的检测一直是一个瓶颈。本文引入计算全息术测量非球面透镜中频波前功率谱密度。借助现代光刻技术,我们研制了大口径高精度CGH,用以提供高精度的非球面参考波前,从而实现了大口径长焦距透镜中频波前功率谱密度高精度检测,且该方法可大大缩短光路、降低振动和空气扰动的影响。通过与干涉法测量结果对比,验证了计算全息法测量的准确性和方便性。此外,详细分析了计算全息法应用于非球面透镜中频波前检测的测量不确定度。理论分析和实际检测结果表明,对于焦距大于30 m、通光口径大于Φ410 mm的长焦距非球面透镜,其中频波前PSD测量不确定度RMS小于1 nm。
- 魏小红徐凯源刘昂
- 关键词：功率谱密度
- 大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
- 本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法，属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量，其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
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