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杜智超

作品数：11 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院微电子研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 10篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 8篇自动化与计算...

主题

  • 8篇存储器
  • 5篇电压
  • 4篇闪存
  • 4篇锁存
  • 4篇非易失性
  • 3篇读操作
  • 3篇噪声
  • 3篇闪存存储
  • 3篇闪存存储器
  • 3篇芯片
  • 2篇等价
  • 2篇电路
  • 2篇读出
  • 2篇读取方法
  • 2篇端电压
  • 2篇输出端
  • 2篇锁存器
  • 2篇准确率
  • 2篇反相器
  • 2篇非易失性存储

机构

  • 11篇中国科学院微...
  • 1篇成都信息工程...
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 11篇杜智超
  • 9篇霍宗亮
  • 9篇王颀
  • 6篇叶甜春
  • 2篇陈岚
  • 2篇杨诗洋
  • 2篇龙爽
  • 2篇陈巍巍
  • 1篇叶松
  • 1篇陈珂

传媒

  • 1篇电子学报

年份

  • 1篇2022
  • 2篇2020
  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 4篇2017
  • 1篇2015
共 11 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种用于非易失性存储器的读操作方法及装置
本发明实施例公开了一种用于非易失性存储器的读操作方法，包括：在选中的字线上施加第一读取电压，并在未被选中的字线上施加读通电压后，分次经不同的位线感测选中的字线上连接的全部存储单元管的状态；之后，在所述选中的字线上施加第二...
杜智超王颀霍宗亮叶甜春
文献传递
一种存储器感应电压测试电路及测试方法
本申请提供一种存储器感应电压测试电路及测试方法，所述测试电路包括电压传输模块，利用页缓冲器中的SO节点的电压即为锁存器的第二输入端的翻转电压，再基于锁存器的对称性，等价到锁存器第一输入端rst_sa_latch节点上的电...
王颀王中波刘飞杜智超霍宗亮
文献传递
一种读取方法及闪存存储器装置
本发明公开了一种读取方法及闪存存储器装置，读取方法应用于闪存存储器装置，闪存存储器装置包括非易失性半导体存储单元阵列，包括：判断是否读取所述非易失性半导体存储单元阵列的全部存储单元，若是，则对所述全部存储单元相应字线施加...
杜智超付祥王颀霍宗亮叶甜春
文献传递
NAND闪存存储器的读操作方法、电子设备和计算机可读存储介质
本公开实施例提出了一种NAND闪存存储器的读操作方法、电子设备。所述NAND闪存存储器排列成阵列，所述NAND闪存存储储器包括多个块，每个块包括多个页。一条位线连接至多个块，每一个块连接至下部的多条存储单元串，其中一个存...
杜智超王颀霍宗亮叶甜春
存储芯片、存储单元及其驱动方法
本发明提供了一种存储芯片、存储单元及其驱动方法，包括：锁存结构、第一传输器件和第二传输器件；锁存结构包括第一反相器和第二反相器，第一反相器的输出端与第二反相器的输入端相连，第一反相器的输入端与第二反相器的输出端相连；第一...
陈巍巍陈岚杜智超龙爽杨诗洋
基于一种NAND闪存页缓存器设计的C/F读取算法研究
2018年
为减小共源线噪声对NAND闪存读可靠性的影响,设计了一种可实现C/F(Coarse/Fine)读取操作的页缓存器电路,并设计实现了适用于此电路的C/F读取算法,显著减小了共源线噪声.该算法通过两次子读感应读取存储单元,在第一次子读感应中分辨出阈值电压较低的存储单元并标记在页缓存器中,使其不再进行第二次子读感应,从而减小共源线噪声引起的阈值偏移.电路仿真计算表明,该支持C/F读取算法的页缓存器结构能够减小阈值偏移至少495. 6mV,有效提高了NAND闪存读操作的精确性.
陈珂杜智超杜智超王颀叶松
关键词：NAND闪存
一种用于非易失性存储器的读操作方法及装置
本发明实施例公开了一种用于非易失性存储器的读操作方法，包括：在选中的字线上施加第一读取电压，并在未被选中的字线上施加读通电压后，分次经不同的位线感测选中的字线上连接的全部存储单元管的状态；之后，在所述选中的字线上施加第二...
杜智超王颀霍宗亮叶甜春
存储芯片、存储单元及其驱动方法
本发明提供了一种存储芯片、存储单元及其驱动方法，包括：锁存结构、第一传输器件和第二传输器件；锁存结构包括第一反相器和第二反相器，第一反相器的输出端与第二反相器的输入端相连，第一反相器的输入端与第二反相器的输出端相连；第一...
陈巍巍陈岚杜智超龙爽杨诗洋
文献传递
一种读取方法及闪存存储器装置
本发明公开了一种读取方法及闪存存储器装置，读取方法应用于闪存存储器装置，闪存存储器装置包括非易失性半导体存储单元阵列，包括：判断是否读取所述非易失性半导体存储单元阵列的全部存储单元，若是，则对所述全部存储单元相应字线施加...
杜智超付祥王颀霍宗亮叶甜春
一种存储器感应电压测试电路及测试方法
本申请提供一种存储器感应电压测试电路及测试方法，所述测试电路包括电压传输模块，利用页缓冲器中的SO节点的电压即为锁存器的第二输入端的翻转电压，再基于锁存器的对称性，等价到锁存器第一输入端rst_sa_latch节点上的电...
王颀王中波刘飞杜智超霍宗亮
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