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彭菊红

作品数：5 被引量：5H指数：1
供职机构：华中科技大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 4篇相变
  • 3篇相变存储
  • 3篇存储器
  • 2篇电流
  • 2篇电压
  • 2篇电阻
  • 2篇小写
  • 2篇脉冲
  • 2篇脉冲幅度
  • 2篇脉冲作用
  • 2篇测试装置
  • 2篇存储器单元
  • 1篇等效电路
  • 1篇等效电路模型
  • 1篇电路模型
  • 1篇电容
  • 1篇相变存储器
  • 1篇分布电容

机构

  • 5篇华中科技大学
  • 1篇武汉光电国家...

作者

  • 5篇缪向水
  • 5篇彭菊红
  • 4篇李震
  • 2篇瞿力文
  • 2篇邓宇帆
  • 2篇陈伟
  • 2篇张乐
  • 1篇马翠
  • 1篇李震

传媒

  • 1篇计算机与数字...

年份

  • 2篇2014
  • 2篇2012
  • 1篇2011
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
一种相变存储单元阵列的测试装置
本发明公开了一种相变存储单元的测试装置，装置包括信号发生器、测量模块、转换连接接口、探针台、控制器、单元阵列接口电路和数字示波器；通过控制器施加控制信号，通过信号发生器施加激励信号，通过测量模块或示波器采集信号完成对相变...
缪向水瞿力文张乐彭菊红李震
文献传递
相变存储器单元的脉冲I-V特性测试方法和装置
本发明公开了相变存储器单元的脉冲I-V特性测试方法及装置，将被测单元的下电极与CMOS管的漏极串接；向CMOS管的栅极施加等幅度等脉宽的脉冲序列，同时向相变存储器单元的上电极施加由零至设定电压值之间阶梯变化的直流扫描电压...
缪向水李震陈伟彭菊红邓宇帆
一种相变存储单元阵列的测试装置
本发明公开了一种相变存储单元的测试装置，装置包括信号发生器、测量模块、转换连接接口、探针台、控制器、单元阵列接口电路和数字示波器；通过控制器施加控制信号，通过信号发生器施加激励信号，通过测量模块或示波器采集信号完成对相变...
缪向水瞿力文张乐彭菊红李震
相变存储器存储单元瞬态电流测量被引量：5
2012年
介绍了相变存储单元瞬态电流的测量方法。根据相变存储器的工作特性,利用微弱电流取样电阻测量法,合理选择测量参数测得了相变存储单元的瞬态电流,电阻与电流关系特性曲线和动态电阻。并根据测量电路等效电路模型分析影响测量的因素,估算出电路中的分布电容。
马翠李震彭菊红缪向水
关键词：相变存储器等效电路模型分布电容
相变存储器单元的脉冲I-V特性测试方法和装置
本发明公开了相变存储器单元的脉冲I-V特性测试方法及装置，将被测单元的下电极与CMOS管的漏极串接；向CMOS管的栅极施加等幅度等脉宽的脉冲序列，同时向相变存储器单元的上电极施加由零至设定电压值之间阶梯变化的直流扫描电压...
缪向水李震陈伟彭菊红邓宇帆
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