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王学军

作品数:2 被引量:11H指数:1
供职机构:华东师范大学理工学院物理学系更多>>
相关领域:机械工程化学工程电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇化学工程
  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇金刚石薄膜
  • 1篇选择性
  • 1篇掩蔽层
  • 1篇氧化硅
  • 1篇热解
  • 1篇摩擦学
  • 1篇摩擦学性能
  • 1篇金刚石
  • 1篇类金刚石
  • 1篇类金刚石薄膜
  • 1篇刚石
  • 1篇
  • 1篇

机构

  • 2篇华东师范大学
  • 1篇兰州大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 2篇郑志豪
  • 2篇孙卓
  • 2篇王学军
  • 1篇阎逢元
  • 1篇陈景升
  • 1篇何奕骅
  • 1篇范焕章
  • 1篇许春芳
  • 1篇朱建中

传媒

  • 1篇华东师范大学...
  • 1篇摩擦学学报(...

年份

  • 1篇1998
  • 1篇1995
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
用TEOSPECVD氧化硅做掩蔽层选择性生长金刚石薄膜
1995年
本文研究了在HF—CVD法中,衬底温度Ts对PETEOS(等离子体增强正硅酸乙酯)氧化硅—硅衬底上选择性生长金刚石薄膜的影响。结果表明:Ts变化影响PETEOS氧化硅掩蔽层区域和硅表面金刚石晶粒成核密度。Ts较低时(750—820℃),PETEOS氧化硅区域成核密度远小于裸露硅表面;随Ts升高(>820℃),氧化硅区域成核密度增加很快;当Ts>850℃时,氧化硅区域成核密度超过硅表面。
何奕骅许春芳范焕章孙卓王学军郑志豪朱建中杨申仲
关键词:金刚石选择性掩蔽层
聚合物热解合成类金刚石薄膜的结构及摩擦学性能研究被引量:11
1998年
合成了一种新型的碳基阶梯聚合物——聚碳苯CCn,将其涂于氮化硅陶瓷上,在常压、惰性气氛条件下经1000~1200℃热处理,在氮化硅底材上合成出类金刚石薄膜.利用扫描电子显微镜、喇曼光谱和X射线衍射等技术对类金刚石薄膜的表面形貌和结构进行了分析,并且对其摩擦学性能进行了考察.结果表明:类金刚石薄膜是由金刚石、石墨碳等相组成,具有较高的硬度、较低的摩擦系数和良好的耐磨损性能.
陈景升王学军王学军孙卓郑志豪
关键词:热解类金刚石薄膜摩擦学性能
共1页<1>
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