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陈垦

作品数：4 被引量：2H指数：1
供职机构：上海市激光技术研究所更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇标准

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇信号
  • 2篇圆光栅
  • 2篇码盘
  • 2篇刻划
  • 2篇回转台
  • 2篇编码信号
  • 1篇读数装置
  • 1篇微米
  • 1篇微米级
  • 1篇物镜
  • 1篇显微物镜
  • 1篇节目
  • 1篇进给
  • 1篇进给装置
  • 1篇激光光盘
  • 1篇检波
  • 1篇检波器
  • 1篇光斑
  • 1篇光斑尺寸
  • 1篇光检测器

机构

  • 4篇上海市激光技...

作者

  • 4篇沈冠群
  • 4篇陈垦
  • 3篇吴宾初
  • 1篇黄宣劭
  • 1篇刘立明

传媒

  • 1篇应用激光

年份

  • 1篇2001
  • 2篇1993
  • 1篇1985
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
用于制作圆光栅码盘的逐点光刻划方法和系统
本发明揭示了一种制作圆光栅码盘的逐点光刻划方法及其系统，该系统包括：使待刻划码盘匀速旋转的回转台装置；产生与待刻划码盘角位置锁定且与待刻划码盘所需的编码图形相应的编码信号的编码信号产生装置；受所述编码信号控制、在码盘的待...
沈冠群吴宾初蔡康泽曹沛其黄宣邵陈垦
文献传递
用于制作圆光栅码盘的逐点光刻划方法及其系统
本发明揭示了一种制作圆光栅码盘的逐点光刻划方法及其系统，该系统包括：使待刻划码盘匀速旋转的回转台装置；产生与待刻划码盘角位置锁定且与待刻划码盘所需的编码图形相应的编码信号的编码信号产生装置；受所述编码信号控制、在码盘的待...
沈冠群吴宾初蔡康泽曹沛其黄宣邵陈垦
文献传递
微光斑尺寸测试技术被引量：2
1985年
光盘录刻系统的一个重要参数是系统的最小可能焦斑尺寸。本文描述一种测量亚微米级焦斑的方便而精确的测量技术。测试装置包括对焦及微调机构;刀口/光检测器扫描部分和光栅读数刀口定位部分。
陈垦刘立明沈冠群黄宣劭蔡康泽俞三程
关键词：光斑尺寸激光光盘光检测器检波器读数装置显微物镜
预录节目光学反射式视盘系统“LV”50Hz/625行—PAL制
曹沛其沈冠群陈垦吴宾初蔡康泽
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