您的位置： 专家智库 > >

张建勇

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子技术标准化研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文标准

主题

  • 1篇维修性
  • 1篇可靠性
  • 1篇可用性
  • 1篇半导体
  • 1篇RAM

机构

  • 1篇中国电子技术...

作者

  • 1篇刘筠
  • 1篇蒋迪宝
  • 1篇黄英华
  • 1篇张建勇

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
本标准通过提供半导体制造设备(以下简称设备)在制造环境下的可靠性、可用性和维修性(以下简称RAM)性能的测量标准,为这种设备的用户和设备供应商建立一个交流的共同基础。本标准定义了设备的六个基本状态,所有的设备条件和阶段都...
黄英华刘筠张建勇蒋迪宝
关键词：半导体可靠性
文献传递
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0