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许春才

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：赣州有色冶金研究所更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇氧化硅
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱分析
  • 1篇上机
  • 1篇钨精矿
  • 1篇精矿
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱分析
  • 1篇黑钨精矿
  • 1篇二氧化硅
  • 1篇粉末压片
  • 1篇粉末样品
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇X射线荧光光...

机构

  • 1篇赣州有色冶金...

作者

  • 1篇钟道国
  • 1篇许春才

传媒

  • 1篇岩矿测试

年份

  • 1篇1988
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
黑钨精矿中二氧化硅的X射线荧光光谱分析被引量：1
1988年
本文采用粉末压片方法,以硼酸镶边垫底,将黑钨精矿粉末样品直接加压成型,用赛璐珞-丙酮溶液封固表面,然后上机测定。标准系列与样品的基体成份相近,以消除基体效应,分析二氧化硅的含量范围为0.1—10%,相对标准偏差约2%,分析精度能满足选矿流程要求。
钟道国许春才王子箴
关键词：X射线荧光光谱分析二氧化硅粉末压片粉末样品
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